近眼顯示測(cè)量系統(tǒng)在測(cè)試亮度不均勻性方面具有不可替代的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。由于近眼顯示設(shè)備（如VR頭顯）采用特殊光學(xué)透鏡，會(huì)不可避免地產(chǎn)生中心亮、邊緣暗的漸暈效應(yīng)，傳統(tǒng)測(cè)量手段難以準(zhǔn)確評(píng)估。該系統(tǒng)通過(guò)高分辨率成像亮度計(jì)，模擬人眼視野，能夠?qū)︼@示屏全域進(jìn)行數(shù)百萬(wàn)個(gè)點(diǎn)的逐點(diǎn)亮...

近眼顯示測(cè)量系統(tǒng)在調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）測(cè)量中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，這是評(píng)估AR/VR設(shè)備光學(xué)成像質(zhì)量的重要指標(biāo)。通過(guò)高精度的光學(xué)探頭和精密運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)，系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確測(cè)量不同空間頻率下的對(duì)比度傳遞特性。測(cè)量時(shí)，系統(tǒng)會(huì)顯示特定的測(cè)試圖案，然后通過(guò)仿人眼光學(xué)系統(tǒng)捕...

光學(xué)膜貼合角測(cè)試儀通過(guò)相位差測(cè)量評(píng)估光學(xué)元件貼合界面的質(zhì)量。當(dāng)兩個(gè)光學(xué)表面通過(guò)膠合或直接接觸方式結(jié)合時(shí)，其界面會(huì)形成納米級(jí)的空氣間隙或應(yīng)力層，導(dǎo)致可測(cè)量的相位差。這種測(cè)試對(duì)高精度光學(xué)系統(tǒng)的裝配尤為重要，如相機(jī)鏡頭模組、激光諧振腔等。當(dāng)前的干涉測(cè)量技術(shù)結(jié)合相位分...

當(dāng)顯示面板出現(xiàn)視角不良、灰階反轉(zhuǎn)或閃爍等缺陷時(shí)，預(yù)傾角異常往往是潛在的根源之一。對(duì)于一些顯示產(chǎn)品研發(fā)而言，相位差測(cè)量?jī)x更是加速創(chuàng)新迭代的關(guān)鍵工具。在開(kāi)發(fā)新型液晶材料、探索更高性能的取向膜或研制柔性顯示器時(shí)，精確控制預(yù)傾角是成功的關(guān)鍵。該儀器不僅能提供準(zhǔn)確的預(yù)傾...

穆勒矩陣測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)深入的偏振分析，可以完整表征光學(xué)元件的偏振特性。相位差測(cè)量作為其中的關(guān)鍵參數(shù)，反映了樣品的雙折射和旋光特性。這種測(cè)試對(duì)復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)尤為重要，如VR頭顯中的復(fù)合光學(xué)模組。當(dāng)前的快照式穆勒矩陣測(cè)量技術(shù)可以在毫秒級(jí)時(shí)間內(nèi)完成全偏振態(tài)分析，很大程度...

近眼顯示測(cè)量系統(tǒng)在測(cè)試亮度不均勻性方面具有不可替代的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。由于近眼顯示設(shè)備（如VR頭顯）采用特殊光學(xué)透鏡，會(huì)不可避免地產(chǎn)生中心亮、邊緣暗的漸暈效應(yīng)，傳統(tǒng)測(cè)量手段難以準(zhǔn)確評(píng)估。該系統(tǒng)通過(guò)高分辨率成像亮度計(jì)，模擬人眼視野，能夠?qū)︼@示屏全域進(jìn)行數(shù)百萬(wàn)個(gè)點(diǎn)的逐點(diǎn)亮...

位差測(cè)量?jī)x作為光學(xué)精密測(cè)量領(lǐng)域的設(shè)備，在光學(xué)元件的研發(fā)、制造與質(zhì)量檢測(cè)中發(fā)揮著不可替代的作用。它通過(guò)高精度的干涉或波前傳感技術(shù)，能夠非接觸地測(cè)量光波經(jīng)過(guò)光學(xué)材料或系統(tǒng)后產(chǎn)生的相位分布變化，從而精確評(píng)估元件面形精度、材料均勻性、內(nèi)部應(yīng)力及鍍膜質(zhì)量。無(wú)論是透鏡、棱...

在液晶盒的生產(chǎn)制造過(guò)程中，相位差測(cè)量?jī)x能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)預(yù)傾角的快速檢測(cè)，成為質(zhì)量控制體系中不可或缺的一環(huán)。取向?qū)拥耐扛?、固化以及摩擦工藝中的任何微小偏差，都?huì)導(dǎo)致預(yù)傾角偏離設(shè)計(jì)值，進(jìn)而引發(fā)顯示不均勻或響應(yīng)遲緩等問(wèn)題。該儀器可對(duì)生產(chǎn)線上的樣品進(jìn)行全自動(dòng)掃描測(cè)量，迅速獲...

近眼顯示測(cè)量系統(tǒng)在VR設(shè)備色域測(cè)量中還承擔(dān)著色彩管理的重要任務(wù)。由于VR設(shè)備提供完全沉浸式的體驗(yàn)，色彩的一致性直接影響用戶的臨場(chǎng)感。該系統(tǒng)能夠***測(cè)量不同視場(chǎng)角下的色域變化，檢測(cè)透鏡帶來(lái)的色彩均勻性問(wèn)題。更重要的是，系統(tǒng)可以建立精確的色彩特性文件（ICC P...

顯示屏視場(chǎng)角測(cè)量系統(tǒng)在灰階測(cè)試中的重要應(yīng)用，在于系統(tǒng)性評(píng)估其亮度響應(yīng)特性隨視角變化的穩(wěn)定性。該系統(tǒng)通過(guò)在暗室環(huán)境中，驅(qū)動(dòng)高精度亮度計(jì)在多個(gè)觀測(cè)角度上，依次精確測(cè)量顯示屏從*低灰度（如0級(jí)，全黑）到*高灰度（如255級(jí)，全白）的每一個(gè)或關(guān)鍵灰階的亮度值。傳統(tǒng)測(cè)試...

近眼顯示測(cè)量系統(tǒng)在虛像距離測(cè)試中發(fā)揮著關(guān)鍵作用，這是評(píng)估AR設(shè)備顯示性能的重要指標(biāo)。通過(guò)高精度的光學(xué)測(cè)量模塊和先進(jìn)的圖像處理算法，系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確測(cè)量虛擬圖像在光學(xué)系統(tǒng)中的呈現(xiàn)距離。測(cè)試過(guò)程中，系統(tǒng)使用特定的標(biāo)定圖案，通過(guò)雙目光學(xué)探頭模擬人眼視差，結(jié)合三角測(cè)量原理...

在AR衍射光波導(dǎo)的制造過(guò)程中，相位差測(cè)量?jī)x是保障其性能與良率的**檢測(cè)裝備。衍射光波導(dǎo)表面刻蝕的納米級(jí)光柵結(jié)構(gòu)的形狀、深度和周期均勻性，直接決定了光線的耦合效率、出瞳均勻性和成像清晰度。傳統(tǒng)尺寸測(cè)量手段難以評(píng)估其光學(xué)功能性能。該儀器能夠直接測(cè)量透過(guò)光波導(dǎo)后的波...

相位差測(cè)量?jī)x在AR/VR領(lǐng)域的發(fā)展正朝著更高集成度方向演進(jìn)。當(dāng)前一代設(shè)備將三次元折射率測(cè)量與相位差分析功能深度融合，實(shí)現(xiàn)光學(xué)材料特性的普遍表征。系統(tǒng)采用共聚焦原理，可以非接觸式測(cè)量曲面光學(xué)件的折射率分布。在復(fù)合光學(xué)膠的檢測(cè)中，該技術(shù)能發(fā)現(xiàn)固化不均勻?qū)е碌恼凵渎?..

PLM系列相位差測(cè)試儀在AR/VR光學(xué)模組的量產(chǎn)檢測(cè)中具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。該系列整合了相位差、光軸、透過(guò)率等多項(xiàng)測(cè)試功能，實(shí)現(xiàn)一站式測(cè)量。系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)不同產(chǎn)品需求靈活配置測(cè)試項(xiàng)目。在Pancake模組的檢測(cè)中，PLM測(cè)試儀能在90秒內(nèi)完成12項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)...

配向角測(cè)試儀利用相位差測(cè)量技術(shù)評(píng)估液晶盒中配向?qū)拥娜∠蛱匦浴Ｍㄟ^(guò)分析偏振光經(jīng)過(guò)配向?qū)雍蟮南辔蛔兓梢跃_計(jì)算液晶分子的預(yù)傾角。這種測(cè)量對(duì)TN、VA等液晶顯示模式尤為重要，因?yàn)榕湎蚪堑奈⑿∑疃紩?huì)導(dǎo)致顯示均勻性問(wèn)題。當(dāng)前研發(fā)的全自動(dòng)配向角測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了高精度旋...

近眼顯示測(cè)試系統(tǒng)：NED-100S，應(yīng)用于AR/VR/MR圖像質(zhì)量和現(xiàn)實(shí)性能測(cè)量，可測(cè)量項(xiàng)目包括光譜功率分布，亮度和色度，亮度和色度不均勻性，色域，視場(chǎng)角FOV，調(diào)制傳遞函數(shù)MTF，對(duì)比度，虛像距離，畸變。它特有的光譜圖像算法，實(shí)現(xiàn)圖像顏色的精確測(cè)量，模擬人眼...

應(yīng)力分布測(cè)試在光學(xué)元件生產(chǎn)中扮演著至關(guān)重要的角色，它能夠準(zhǔn)確揭示材料內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài)，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供科學(xué)依據(jù)。在光學(xué)元件的制造過(guò)程中，從原材料加工到**終成型，每個(gè)環(huán)節(jié)都可能引入不同程度的殘余應(yīng)力。這些應(yīng)力不僅會(huì)影響元件的機(jī)械強(qiáng)度，更會(huì)改變其光學(xué)性能，導(dǎo)致波...

近眼顯示測(cè)量系統(tǒng)在顯示性能的綜合評(píng)估中實(shí)現(xiàn)了多維度參數(shù)關(guān)聯(lián)分析。系統(tǒng)可同步測(cè)量光學(xué)性能（如MTF、畸變）、色彩特性（色域、均勻性）和光電參數(shù)（亮度、對(duì)比度），建立完整的顯示質(zhì)量畫(huà)像。通過(guò)先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理算法，系統(tǒng)能夠識(shí)別各參數(shù)間的相互影響，如透鏡眩光對(duì)對(duì)比度的降...

視場(chǎng)角色域測(cè)量系統(tǒng)是一款高度集成的光學(xué)測(cè)量平臺(tái)，其重要能力在于能夠同步測(cè)量亮度（或光度）和色度隨觀察角度的連續(xù)變化分布。該系統(tǒng)通過(guò)高精度機(jī)械轉(zhuǎn)臺(tái)，將光譜輻射計(jì)或成像色度計(jì)在屏幕前方的半球空間內(nèi)進(jìn)行精密定位，模擬人眼在所有可能位置的觀測(cè)角度。在測(cè)試過(guò)程中，顯示屏...

相位差測(cè)量?jī)x在OLED行業(yè)發(fā)揮著至關(guān)重要的質(zhì)量管控作用，其主要應(yīng)用于對(duì)OLED發(fā)光層、基板以及封裝薄膜的微觀厚度與均勻性進(jìn)行高精度非接觸式測(cè)量。OLED器件的性能、壽命和顯示均勻性極度依賴于各功能納米級(jí)薄膜厚度的精確控制。該設(shè)備基于高分辨率的光學(xué)干涉原理，通過(guò)...

顯示屏視場(chǎng)角測(cè)量系統(tǒng)在相對(duì)色溫（CCT）測(cè)試中扮演著至關(guān)重要的角色。傳統(tǒng)的光學(xué)測(cè)量通常在屏幕正前方進(jìn)行，無(wú)法反映用戶在不同角度觀看時(shí)色彩一致性的真實(shí)體驗(yàn)。該系統(tǒng)通過(guò)高精度的機(jī)械結(jié)構(gòu)與多角度光譜輻射計(jì)，可準(zhǔn)確測(cè)量顯示屏在各個(gè)視角下的色度坐標(biāo)，并據(jù)此計(jì)算出不同視角...

貼合角測(cè)試儀在AR/VR光學(xué)模組的組裝工藝控制中不可或缺。相位差測(cè)量技術(shù)可以納米級(jí)精度檢測(cè)光學(xué)元件貼合界面的角度偏差。系統(tǒng)采用白光干涉原理，測(cè)量范圍±5度，分辨率達(dá)0.001度。在Pancake模組的檢測(cè)中，該測(cè)試能發(fā)現(xiàn)透鏡堆疊時(shí)的微小角度誤差。當(dāng)前的自動(dòng)對(duì)焦...

相位差測(cè)量?jī)x同樣為AR/VR領(lǐng)域的創(chuàng)新技術(shù)研發(fā)提供了強(qiáng)大的驗(yàn)證工具。在面向未來(lái)的超表面（Metasurface）、全息光學(xué)元件（HOE）等新型光學(xué)方案研究中，這些元件通過(guò)納米結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)對(duì)光波的任意相位調(diào)控。驗(yàn)證其相位調(diào)制函數(shù)是否與設(shè)計(jì)預(yù)期相符是研發(fā)成功的關(guān)鍵。該...

在光學(xué)貼合角的測(cè)量中，相位差測(cè)量?jī)x同樣具有同等重要作用。貼合角是指兩個(gè)光學(xué)表面之間的夾角，其精度直接影響光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。相位差測(cè)量?jī)x通過(guò)分析干涉條紋或反射光的相位變化，能夠精確計(jì)算貼合角的大小。例如，在激光器的諧振腔調(diào)整中，相位差測(cè)量?jī)x可幫助工程師優(yōu)化鏡面...

在顯示面板的研發(fā)與質(zhì)量管控中，視場(chǎng)角測(cè)量系統(tǒng)對(duì)色域的評(píng)估起著至關(guān)重要的作用。工程師利用該系統(tǒng)生成的詳盡數(shù)據(jù)，可以準(zhǔn)確定位色偏問(wèn)題的根源，例如評(píng)估不同像素設(shè)計(jì)、液晶配向技術(shù)（如IPS、FFS）或量子點(diǎn)膜對(duì)廣視角色域穩(wěn)定性的影響。在質(zhì)量控制環(huán)節(jié)，它被用于執(zhí)行嚴(yán)格的...

顯示屏視場(chǎng)角測(cè)量系統(tǒng)在對(duì)比度及其角度分布測(cè)量中是評(píng)估屏幕可視性能的重要工具。該系統(tǒng)的工作機(jī)制在于，于暗室環(huán)境中，通過(guò)高精度機(jī)械結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)光學(xué)探頭，依次在屏幕正前方及一系列特定偏轉(zhuǎn)和俯仰角度上，分別精確測(cè)量屏幕顯示全白畫(huà)面時(shí)的亮度值（L_white）與顯示全黑畫(huà)面...

光學(xué)膜的光軸分布測(cè)量是確保其性能達(dá)標(biāo)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在偏振片、增透膜等光學(xué)薄膜的生產(chǎn)過(guò)程中，分子取向的一致性直接影響產(chǎn)品的光學(xué)特性。通過(guò)精密的光軸測(cè)量系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確獲取薄膜各區(qū)域的光軸取向角度，檢測(cè)是否存在局部取向偏差。這種測(cè)量通常采用旋轉(zhuǎn)檢偏器法或穆勒矩陣橢偏儀...

R0相位差測(cè)試儀專注于測(cè)量光學(xué)元件在垂直入射條件下的相位差，是評(píng)估波片性能的關(guān)鍵設(shè)備。儀器采用高精度旋轉(zhuǎn)分析器法，結(jié)合鎖相放大技術(shù)，能夠檢測(cè)低至0.01°的相位差變化。在激光光學(xué)系統(tǒng)中，R0測(cè)試儀可精確標(biāo)定1/4波片、1/2波片的相位延遲量，確保偏振態(tài)轉(zhuǎn)換的準(zhǔn)...

Senarmont補(bǔ)償法是一種用于測(cè)量晶體雙折射性質(zhì)的方法在Senarmont補(bǔ)償法中，通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品或者偏振器，使得光通過(guò)樣品時(shí)受到不同方向的雙折射影響，然后觀察光的強(qiáng)度變化。通過(guò)測(cè)量光強(qiáng)度的變化，可以推斷出樣品的雙折射性質(zhì)。如有色玻璃試樣內(nèi)應(yīng)力定量試驗(yàn)方法，...

薄膜相位差測(cè)試儀在光學(xué)鍍膜行業(yè)應(yīng)用普遍，主要用于評(píng)估功能薄膜的相位調(diào)制特性。通過(guò)測(cè)量薄膜引起的偏振態(tài)變化，可以精確計(jì)算其雙折射特性和厚度均勻性。這種測(cè)試對(duì)相位延遲膜、波片等光學(xué)元件的質(zhì)量控制尤為重要。當(dāng)前的光譜橢偏技術(shù)結(jié)合相位差測(cè)量，實(shí)現(xiàn)了對(duì)復(fù)雜膜系結(jié)構(gòu)的深入...