在評(píng)估良率管理系統(tǒng)投入時(shí)，企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購成本，更是長(zhǎng)期使用中的效率回報(bào)與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運(yùn)維支持，確保部署后穩(wěn)定運(yùn)行與功能演進(jìn)。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報(bào)價(jià)結(jié)構(gòu)避免隱性收費(fèi)，使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時(shí)，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與卡控、多維度良率分析及靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦...

國產(chǎn)芯片進(jìn)入量產(chǎn)階段后，對(duì)數(shù)據(jù)一致性、分析時(shí)效性和報(bào)告規(guī)范性提出更高要求。YMS自動(dòng)匯聚來自SineTest、Juno、CTS8280等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，剔除重復(fù)與異常記錄，形成高質(zhì)量數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。系統(tǒng)可實(shí)時(shí)識(shí)別某批次FT良率偏離趨勢(shì)，并回溯其CP漏電參數(shù)與WAT柵氧特性，快速鎖定問題環(huán)節(jié)。日?qǐng)?bào)、周報(bào)按模板自動(dòng)生成，內(nèi)容涵蓋良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷對(duì)比、關(guān)鍵參數(shù)關(guān)聯(lián)等，支持導(dǎo)出為標(biāo)準(zhǔn)格式用于客戶審核或內(nèi)部復(fù)盤。這種穩(wěn)定、可追溯的數(shù)據(jù)支撐體系，為大規(guī)模量產(chǎn)提供決策底氣。上海偉諾信息科技有限公司聚焦量產(chǎn)場(chǎng)景痛點(diǎn)，強(qiáng)化YMS在高負(fù)荷環(huán)境下的可靠性與輸出規(guī)范性?；跉v史數(shù)據(jù)，YMS自動(dòng)計(jì)算SYL/SBL，還支持...

在包含數(shù)百道工序的復(fù)雜制造過程中，任何微小的偏差都可能導(dǎo)致芯片失效。YMS能快速關(guān)聯(lián)制造該芯片的所有工藝參數(shù)、數(shù)據(jù)等相關(guān)信息，幫助用戶快速定位出現(xiàn)低良率的原因。并進(jìn)行針對(duì)性的改善。 面對(duì)分散在Fab、封測(cè)廠等多個(gè)環(huán)節(jié)的“數(shù)據(jù)孤島”，上海偉諾的良率分析管控系統(tǒng)提供了統(tǒng)一的智能分析平臺(tái)。系統(tǒng)不僅自動(dòng)采集并關(guān)聯(lián)SPC、WAT、封裝、測(cè)試等全鏈路數(shù)據(jù)，更能運(yùn)用先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)模型與數(shù)據(jù)挖掘技術(shù)，自動(dòng)生成多維度的分析圖表與根因分析報(bào)告。這徹底改變了傳統(tǒng)依賴人工、逐層排查的低效模式，幫助用戶從海量數(shù)據(jù)中精確、高效地定位影響良率的關(guān)鍵工藝缺陷或測(cè)試異常，并將分析洞見直接轉(zhuǎn)化為改善行動(dòng)，形成從發(fā)現(xiàn)問題到解...

良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí)，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具，時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時(shí)間序列分析功能，助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過程管控。結(jié)合WAT、CP、FT...

過去，國內(nèi)半導(dǎo)體企業(yè)常因缺乏本地化良率分析工具，被迫采購昂貴的國外軟件，且難以適配國產(chǎn)Tester設(shè)備。YMS系統(tǒng)自動(dòng)采集ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種主流測(cè)試平臺(tái)產(chǎn)生的stdf、log、jdf、csv等格式數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與異常過濾后，構(gòu)建統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，并通過時(shí)間趨勢(shì)、晶圓區(qū)域熱力圖、WAT/CP/FT參數(shù)關(guān)聯(lián)等多維分析，實(shí)現(xiàn)根因定位與良率監(jiān)控。靈活的報(bào)表工具支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，滿足內(nèi)部評(píng)審與客戶交付需求。這一完整閉環(huán)使企業(yè)無需依賴外部系統(tǒng)即可完成全流程良率管理。自動(dòng)化處理替代手工操作，YMS將良率異常排查時(shí)間從小時(shí)級(jí)壓縮至分鐘級(jí)。...

YMS（良率管理系統(tǒng)）的本質(zhì)是將海量測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為精確的質(zhì)量決策依據(jù)。系統(tǒng)兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester設(shè)備，自動(dòng)解析stdf、csv、log、jdf等多種格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理。在此基礎(chǔ)上，通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)時(shí)間序列追蹤與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?，例如發(fā)現(xiàn)某批次中心區(qū)域缺陷密度突增，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)判斷是否為離子注入劑量漂移所致。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化基準(zhǔn)，而靈活報(bào)表工具支持一鍵導(dǎo)出PPT、Excel或PDF格式報(bào)告，減少手工整理負(fù)擔(dān)。這種從原始數(shù)據(jù)到管理行動(dòng)的無縫銜接，極大提升了質(zhì)量團(tuán)隊(duì)的工作效能。上海偉諾信息科技有限公司...

芯片制造對(duì)良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測(cè)試平臺(tái)輸出的多格式文件，自動(dòng)完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識(shí)別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計(jì)問題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級(jí)缺陷分布與趨勢(shì)變化。靈活的報(bào)表引擎支持按周期自動(dòng)生成分析簡(jiǎn)報(bào)，便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進(jìn)。這種精細(xì)化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競(jìng)爭(zhēng)中保持質(zhì)量?jī)?yōu)勢(shì)。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的重要工具。YMS提升測(cè)試數(shù)據(jù)利用率，幫工程師...

在包含數(shù)百道工序的復(fù)雜制造過程中，任何微小的偏差都可能導(dǎo)致芯片失效。YMS能快速關(guān)聯(lián)制造該芯片的所有工藝參數(shù)、數(shù)據(jù)等相關(guān)信息，幫助用戶快速定位出現(xiàn)低良率的原因。并進(jìn)行針對(duì)性的改善。 面對(duì)分散在Fab、封測(cè)廠等多個(gè)環(huán)節(jié)的“數(shù)據(jù)孤島”，上海偉諾的良率分析管控系統(tǒng)提供了統(tǒng)一的智能分析平臺(tái)。系統(tǒng)不僅自動(dòng)采集并關(guān)聯(lián)SPC、WAT、封裝、測(cè)試等全鏈路數(shù)據(jù)，更能運(yùn)用先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)模型與數(shù)據(jù)挖掘技術(shù)，自動(dòng)生成多維度的分析圖表與根因分析報(bào)告。這徹底改變了傳統(tǒng)依賴人工、逐層排查的低效模式，幫助用戶從海量數(shù)據(jù)中精確、高效地定位影響良率的關(guān)鍵工藝缺陷或測(cè)試異常，并將分析洞見直接轉(zhuǎn)化為改善行動(dòng)，形成從發(fā)現(xiàn)問題到解...

半導(dǎo)體制造過程中，良率數(shù)據(jù)的時(shí)效性與準(zhǔn)確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)采集ASL1000、SineTest、MS7000等測(cè)試平臺(tái)生成的多源數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理，消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，使生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)能夠從時(shí)間軸觀察良率波動(dòng)規(guī)律，或聚焦特定晶圓區(qū)域識(shí)別系統(tǒng)性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與閾值卡控，為過程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時(shí)，系統(tǒng)內(nèi)置的報(bào)表引擎可一鍵生成周期性分析簡(jiǎn)報(bào)，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產(chǎn)線健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的管理模式，明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限...

面對(duì)國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對(duì)自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測(cè)試數(shù)據(jù)，通過內(nèi)置算法識(shí)別重復(fù)項(xiàng)、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì)，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝波?dòng)點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，強(qiáng)化了過程質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日...

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。YMS內(nèi)置異常檢測(cè)...

良率異常若依賴人工逐項(xiàng)排查，常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對(duì)數(shù)據(jù)，耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動(dòng)匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢(shì)曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動(dòng)。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí)，工程師可快速調(diào)取對(duì)應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi)，大幅減少試錯(cuò)成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。YMS優(yōu)化存儲(chǔ)策略，自動(dòng)歸檔無效數(shù)據(jù)，大幅減少冗余空間占用。青海半導(dǎo)...

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。YMS消除手工報(bào)表...

在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測(cè)試環(huán)境中，人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流程，實(shí)時(shí)匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與清洗，消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對(duì)，支持從批次到晶圓級(jí)別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時(shí)，系統(tǒng)可迅速調(diào)取對(duì)應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖，并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，輔助工程師在數(shù)小時(shí)內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)預(yù)警，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報(bào)表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科...

在封測(cè)工廠的日常運(yùn)營中，良率波動(dòng)往往源于測(cè)試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時(shí)識(shí)別。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測(cè)試數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常數(shù)據(jù)過濾，確保后續(xù)分析基于準(zhǔn)確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對(duì)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時(shí)間序列追蹤良率趨勢(shì)，或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚻?。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，進(jìn)一步強(qiáng)化了質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具可按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上...

在工藝復(fù)雜度日益攀升的半導(dǎo)體制造業(yè)中，良率管理系統(tǒng)（YMS）已成為企業(yè)構(gòu)筑關(guān)鍵競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵一環(huán)。它通過實(shí)時(shí)采集、監(jiān)控與分析海量生產(chǎn)數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)制造過程的各方面洞察，從而精確定位并快速解決影響良率的瓶頸與缺陷。這不僅直接提升了產(chǎn)品的品質(zhì)與一致性，更通過優(yōu)化工藝窗口、減少晶圓報(bào)廢和返工，實(shí)現(xiàn)了生產(chǎn)成本的降低，是驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體企業(yè)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量與高效益協(xié)同發(fā)展的關(guān)鍵引擎。 上海偉諾信息科技有限公司是專注于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域的良率解決方案提供商。我們致力于為客戶提供專業(yè)的良率分析與管控系統(tǒng)，通過整合制造端、測(cè)試端與品控端的多源數(shù)據(jù)，構(gòu)建從數(shù)據(jù)到洞察、從洞察到?jīng)Q策的完整閉環(huán)。我們的系統(tǒng)賦能用戶精確定位工藝缺陷、...

良率管理的目標(biāo)是將海量測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化采集來自各類Tester平臺(tái)的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級(jí)到晶圓級(jí)的多維度缺陷分析，例如識(shí)別某一時(shí)段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗(yàn)證，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與實(shí)時(shí)卡控，為關(guān)鍵指標(biāo)設(shè)置動(dòng)態(tài)防線。周期性報(bào)告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種從數(shù)據(jù)到行動(dòng)的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度...

在封測(cè)工廠的日常運(yùn)營中，良率波動(dòng)往往源于測(cè)試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時(shí)識(shí)別。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測(cè)試數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常數(shù)據(jù)過濾，確保后續(xù)分析基于準(zhǔn)確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對(duì)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時(shí)間序列追蹤良率趨勢(shì)，或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，進(jìn)一步強(qiáng)化了質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具可按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上...

當(dāng)封測(cè)廠面臨多設(shè)備、多格式測(cè)試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理的困境時(shí)，YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常過濾，明顯降低人工干預(yù)成本。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，支持從時(shí)間趨勢(shì)到晶圓區(qū)域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動(dòng)點(diǎn)。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，強(qiáng)化過程質(zhì)量防線。靈活報(bào)表工具可按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協(xié)同效率。系統(tǒng)報(bào)價(jià)覆蓋軟件授權(quán)、必要定...

當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí)，只靠單一測(cè)試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時(shí)CP漏電流異常升高，YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢(shì)，提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測(cè)試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)，減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測(cè)試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。YMS內(nèi)置異常檢測(cè)規(guī)則，測(cè)試環(huán)節(jié)即觸發(fā)預(yù)警，把質(zhì)量控制關(guān)口從后端移到前端。湖南國產(chǎn)YMS多少...

面對(duì)國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺(tái)，覆蓋十余種測(cè)試數(shù)據(jù)格式，實(shí)現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動(dòng)化。其分析引擎支持時(shí)間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)，精確識(shí)別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，進(jìn)一步強(qiáng)化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強(qiáng)大競(jìng)爭(zhēng)力。偉諾依托多年項(xiàng)目積累，持續(xù)驗(yàn)證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價(jià)值。結(jié)合W...

大型半導(dǎo)體企業(yè)通常設(shè)有車間、質(zhì)量、工藝、管理層等多級(jí)組織，對(duì)數(shù)據(jù)粒度與權(quán)限要求各異。YMS通過統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫集中管理全量測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于角色配置差異化視圖：產(chǎn)線人員查看實(shí)時(shí)良率熱力圖，質(zhì)量團(tuán)隊(duì)調(diào)取晶圓區(qū)域缺陷對(duì)比，高管則聚焦月度趨勢(shì)與SYL/SBL卡控狀態(tài)。所有層級(jí)均基于同一數(shù)據(jù)源，避免信息割裂。多維度分析（如時(shí)間+區(qū)域+產(chǎn)品型號(hào)）支持跨層級(jí)協(xié)同討論，提升決策一致性。這種分層共享機(jī)制既保障數(shù)據(jù)透明，又滿足信息安全管控需求。上海偉諾信息科技有限公司將多層級(jí)協(xié)作邏輯融入YMS設(shè)計(jì)，支撐復(fù)雜組織高效運(yùn)轉(zhuǎn)。YMS通過熱力圖直觀呈現(xiàn)晶圓邊緣與中心的良率差異，關(guān)鍵問題一眼看清。福建半導(dǎo)體良率管理系統(tǒng)解決...

面對(duì)工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性，單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測(cè)試數(shù)據(jù)，通過自動(dòng)化清洗與異常過濾，構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖，從時(shí)間維度追蹤長(zhǎng)期趨勢(shì)，或從空間維度比對(duì)不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異，精確識(shí)別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對(duì)WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制，確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能，則滿足從車間班組長(zhǎng)到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求，持續(xù)完善YMS系...

良率管理服務(wù)的價(jià)值體現(xiàn)在全生命周期的技術(shù)陪伴與問題解決能力。YMS系統(tǒng)不僅提供數(shù)據(jù)采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺(tái)，更通過售前技術(shù)咨詢、售中合理化方案定制與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，確保系統(tǒng)與客戶實(shí)際流程深度契合。當(dāng)客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設(shè)備后，系統(tǒng)自動(dòng)處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數(shù)據(jù)，完成異常檢測(cè)與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷分布及WAT/CP/FT參數(shù)關(guān)聯(lián)性，快速制定改進(jìn)措施。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與閾值監(jiān)控，進(jìn)一步提升過程穩(wěn)定性。靈活的報(bào)表工具支持多格式導(dǎo)出，打通從車間到?jīng)Q策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完...

在工藝復(fù)雜度日益攀升的半導(dǎo)體制造業(yè)中，良率管理系統(tǒng)（YMS）已成為企業(yè)構(gòu)筑關(guān)鍵競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵一環(huán)。它通過實(shí)時(shí)采集、監(jiān)控與分析海量生產(chǎn)數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)制造過程的各方面洞察，從而精確定位并快速解決影響良率的瓶頸與缺陷。這不僅直接提升了產(chǎn)品的品質(zhì)與一致性，更通過優(yōu)化工藝窗口、減少晶圓報(bào)廢和返工，實(shí)現(xiàn)了生產(chǎn)成本的降低，是驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體企業(yè)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量與高效益協(xié)同發(fā)展的關(guān)鍵引擎。 上海偉諾信息科技有限公司是專注于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域的良率解決方案提供商。我們致力于為客戶提供專業(yè)的良率分析與管控系統(tǒng)，通過整合制造端、測(cè)試端與品控端的多源數(shù)據(jù)，構(gòu)建從數(shù)據(jù)到洞察、從洞察到?jīng)Q策的完整閉環(huán)。我們的系統(tǒng)賦能用戶精確定位工藝缺陷、...

國產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價(jià)值在于將碎片化測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設(shè)備，處理十余種格式原始數(shù)據(jù)，確保從晶圓到芯片級(jí)的數(shù)據(jù)鏈完整可靠。系統(tǒng)不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時(shí)間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對(duì)準(zhǔn)偏差或刻蝕不均所致。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異常”到“理解根因”的能力，推動(dòng)質(zhì)量改進(jìn)從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的深入理解，推動(dòng)YMS成...

國產(chǎn)芯片進(jìn)入量產(chǎn)階段后，對(duì)數(shù)據(jù)一致性、分析時(shí)效性和報(bào)告規(guī)范性提出更高要求。YMS自動(dòng)匯聚來自SineTest、Juno、CTS8280等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，剔除重復(fù)與異常記錄，形成高質(zhì)量數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。系統(tǒng)可實(shí)時(shí)識(shí)別某批次FT良率偏離趨勢(shì)，并回溯其CP漏電參數(shù)與WAT柵氧特性，快速鎖定問題環(huán)節(jié)。日?qǐng)?bào)、周報(bào)按模板自動(dòng)生成，內(nèi)容涵蓋良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷對(duì)比、關(guān)鍵參數(shù)關(guān)聯(lián)等，支持導(dǎo)出為標(biāo)準(zhǔn)格式用于客戶審核或內(nèi)部復(fù)盤。這種穩(wěn)定、可追溯的數(shù)據(jù)支撐體系，為大規(guī)模量產(chǎn)提供決策底氣。上海偉諾信息科技有限公司聚焦量產(chǎn)場(chǎng)景痛點(diǎn)，強(qiáng)化YMS在高負(fù)荷環(huán)境下的可靠性與輸出規(guī)范性。YMS毫秒級(jí)處理實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)流，分析結(jié)果同步更新，工藝...

當(dāng)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時(shí)，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設(shè)備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)，構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎(chǔ)上，結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試階段的參數(shù)變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級(jí)缺陷熱力圖、批次良率走勢(shì)一目了然，明顯縮短問題響應(yīng)周期。報(bào)表功能支持按需定制并導(dǎo)出多種辦公格式，提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實(shí)時(shí)卡控能力，則有效預(yù)防批量性質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質(zhì)取勝...

企業(yè)在評(píng)估測(cè)封良率管理系統(tǒng)投入時(shí)，關(guān)注的是功能覆蓋度與長(zhǎng)期服務(wù)保障。YMS提供模塊化配置，支持根據(jù)實(shí)際使用的Tester類型（如ETS364、Juno、AMIDA、CTA8280等）和數(shù)據(jù)格式（包括stdf、jdf、log等）靈活調(diào)整功能組合。系統(tǒng)不僅完成數(shù)據(jù)自動(dòng)清洗與整合，還通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢(shì)、區(qū)域?qū)Ρ燃叭毕菥垲惖亩嗑S分析。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與閾值卡控，為封測(cè)過程設(shè)置動(dòng)態(tài)質(zhì)量防線。報(bào)價(jià)策略基于定制化程度與服務(wù)范圍，確保企業(yè)在合理預(yù)算內(nèi)獲得高性價(jià)比解決方案。配套的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行與持續(xù)演進(jìn)。上海偉諾信息科技有限公司以透明定價(jià)與完整服務(wù)體系...

良率管理的目標(biāo)是將海量測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)化采集來自各類Tester平臺(tái)的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級(jí)到晶圓級(jí)的多維度缺陷分析，例如識(shí)別某一時(shí)段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗(yàn)證，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與實(shí)時(shí)卡控，為關(guān)鍵指標(biāo)設(shè)置動(dòng)態(tài)防線。周期性報(bào)告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種從數(shù)據(jù)到行動(dòng)的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度...