奉賢區(qū)標準探針生產(chǎn)廠家

DNA探針是**常用的核酸探針，指長度在幾百堿基對以上的雙鏈DNA或單鏈DNA探針?，F(xiàn)已獲得DNA探針數(shù)量很多，有細菌、病毒、原蟲、***、動物和人類細胞DNA探針。這類探針多為某一基因的全部或部分序列，或某一非編碼序列。這些DNA片段須是特異的，如細菌的毒力因子基因探針和人類Alu探針。這些DNA探針的獲得有賴于分子克隆技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。以細菌為例，分子雜交技術(shù)用于細菌的分類和菌種鑒定比之G+C百分比值要準確的多，是細菌分類學的一個發(fā)展方向。加之分子雜交技術(shù)的高敏感性，分子雜交在臨床微生物診斷上具有廣闊的前景。還能全自動進行批量（預(yù)置9999測試點）定量分析。奉賢區(qū)標準探針生產(chǎn)廠家

（1）電子光學系統(tǒng)。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發(fā)原子發(fā)射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內(nèi)層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發(fā)生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發(fā)射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產(chǎn)生的X射線波長和強度，并以此對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。特征X射線圖像顯像管的原理是：X射線束入射到一已知晶面間距的晶體上（X射線分光光度計的彎曲晶體上），經(jīng)衍射后各種波長的X射線按不同的布拉格角彼此分開，因此如轉(zhuǎn)動晶體，改變衍射角，同時以兩倍于晶體的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動計數(shù)器，就可以依次測量出各種元素所產(chǎn)生的X射線波長和強度，達到定性和定量分析的目的。奉賢區(qū)標準探針生產(chǎn)廠家探針卡是IC制造中對制造成本影響相當大的重要制程之一。

該系統(tǒng)為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量，足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束，作為X射線的激發(fā)源。為此，一般也采用鎢絲熱發(fā)射電子槍和2-3個聚光鏡的結(jié)構(gòu)。 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流（在10-9-10-7A范圍），常用的加速電壓為10-30 KV，束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分與掃描電鏡明顯不同之處是由光學顯微鏡。它的作用是選擇和確定分析點。其方法是，先利用能發(fā)出熒光的材料（如ZrO2）置于電子束轟擊下，這是就能觀察到電子束轟擊點的位置，通過樣品移動裝置把它調(diào)到光學顯微鏡目鏡十字線交叉點上，這樣就能保證電子束正好轟擊在分析點上，同時也保證了分析點處于X射線分光譜儀的正確位置上。在電子探針上大多使用的光學顯微鏡是同軸反射式物鏡，其優(yōu)點是光學觀察和X射線分析可同時進行。放大倍數(shù)為100-500倍。

探針DNA克隆的篩選也可采用血清學方法，所不同的是所建DNA文庫為可表達性，克隆菌落或噬斑經(jīng)裂解后釋放出表達抗原，然后用來源細菌的多克隆抗血清篩選陽性克隆，所得到多個陽性克隆再經(jīng)其它細菌的抗血清篩選，***只與本細菌抗血清反應(yīng)的表達克隆即含有此細菌的特異性基因片段，它所編碼的蛋白是該菌種所特有的。用這種表達文庫篩選得到的顯然只是特定基因探針。對于基因探針的克隆尚有更快捷的途徑。這也是許多重要蛋白質(zhì)的編碼基因的克隆方法。該方法的第一步是分離純化蛋白質(zhì)，然后測定該蛋白的氨基或羥基末端的部分氨基酸序列，然后根據(jù)這一序列合成一套寡核苷酸探針。為此，一般也采用鎢絲熱發(fā)射電子槍和2-3個聚光鏡的結(jié)構(gòu)。

***臺電子探針是法國制成的，是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯(lián)制成了X射線微區(qū)分析儀，以后英、美等國陸續(xù)生產(chǎn)。***臺掃描電子探針儀是美國于1960年制成，不僅能對試樣作點或微區(qū)分析，而且能對樣品表面微區(qū)進行掃描。原子序數(shù)12至22的元素要在真空下進行成分測定，原子序數(shù)12以內(nèi)的元素需要增添一些特殊設(shè)備才能分析。原子序數(shù)50以上的元素用L系X射線光譜進行分析，原子序數(shù)50以下的元素也可以分析，如Sn（50）可用K系x射線光譜進行分析。 [2]計算時應(yīng)用布拉格方程：nλ=2dsinθ。上海質(zhì)量探針推薦貨源

電子探針主要由電子光學系統(tǒng)（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統(tǒng)組成。奉賢區(qū)標準探針生產(chǎn)廠家

3 面分析用于測定某種元素的面分布情況。方法是將X射線譜儀固定在所要測量的某元素特征X射線信號的位置上，電子束在樣品表面做光柵掃描，此時在熒光屏上便可看到該元素的面分布圖像。顯像管的亮度由試樣給出的X射線強度調(diào)制。圖像中的亮區(qū)表示這種元素的含量較高。定量分析定量分析時，先測得試樣中Y元素的特征X射線強度IY，再在同一條件下測出已知純元素Y的標準試樣特征X射線強度IO。然后兩者分別扣除背底和計數(shù)器死時間對所測值的影響，得到相應(yīng)的強度值IY和IO，兩者相除得到X射線強度之比KY= IY / IO。 直接將測得的強度比KY當作試樣中元素Y的重量濃度，其結(jié)果還有很大誤差，通常還需進行三種效應(yīng)的修正。即原子序數(shù)效應(yīng)的修正，吸收效應(yīng)修正，熒光效應(yīng)修正。經(jīng)過修正，誤差可控制在±2%以內(nèi)。奉賢區(qū)標準探針生產(chǎn)廠家

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