MLCC 的測試技術(shù)隨著產(chǎn)品性能的提升不斷升級,傳統(tǒng)的 MLCC 測試主要關(guān)注電容量、損耗角正切、絕緣電阻、額定電壓等基本參數(shù),采用通用的電子元器件測試設(shè)備即可完成。但隨著車規(guī)級、高頻、高容量 MLCC 的發(fā)展,對測試項(xiàng)目和測試精度提出了更高要求,需要針對特殊性能開發(fā) 的測試設(shè)備和方法。例如,在車規(guī)級 MLCC 測試中,需要模擬汽車實(shí)際工作環(huán)境的溫度循環(huán)、振動(dòng)沖擊等應(yīng)力測試設(shè)備,以及能長時(shí)間監(jiān)測電性能變化的耐久性測試系統(tǒng);在高頻 MLCC 測試中,需要高頻阻抗分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備,精確測量 MLCC 在高頻段的阻抗特性、插入損耗等參數(shù);在高容量 MLCC 測試中,需要高精度的電容測試儀,準(zhǔn)確檢測電容量隨電壓、溫度的變化曲線。目前,國際上的泰克(Tektronix)、安捷倫(Agilent)等企業(yè)在 MLCC 測試設(shè)備領(lǐng)域技術(shù)明顯,中國大陸也在加快測試設(shè)備的研發(fā),逐步實(shí)現(xiàn)測試技術(shù)與國際接軌。消費(fèi)電子領(lǐng)域?qū)Χ鄬悠教沾呻娙萜鞯男枨笸苿?dòng)其向小尺寸、低成本方向發(fā)展。線上微型多層片式陶瓷電容器自動(dòng)化設(shè)備

MLCC 的內(nèi)電極工藝創(chuàng)新對其成本與可靠性影響深遠(yuǎn),早期產(chǎn)品多采用銀鈀合金電極,銀的高導(dǎo)電性與鈀的抗遷移性結(jié)合,使產(chǎn)品具備優(yōu)異性能,但鈀的高昂成本限制了大規(guī)模應(yīng)用。20 世紀(jì) 90 年代后,鎳電極工藝逐步成熟,通過在還原性氣氛(如氫氣與氮?dú)饣旌蠚怏w)中燒結(jié),避免鎳電極氧化,同時(shí)鎳的成本為鈀的 1/20,降低了 MLCC 的生產(chǎn)成本,推動(dòng)其在消費(fèi)電子領(lǐng)域的普及。近年來,銅電極 MLCC 成為新方向,銅的電阻率比鎳低 30% 以上,能進(jìn)一步降低等效串聯(lián)電阻(ESR),提升高頻性能,但銅易氧化的特性對生產(chǎn)環(huán)境要求極高,需在全封閉惰性氣體環(huán)境中完成印刷、燒結(jié)等工序,目前主要應(yīng)用于通信設(shè)備、服務(wù)器電源等對功耗敏感的場景。深圳耐高溫多層片式陶瓷電容器筆記本電腦適配多層片式陶瓷電容器是電子電路中實(shí)現(xiàn)濾波、去耦功能的關(guān)鍵被動(dòng)元器件。

MLCC 的生產(chǎn)工藝復(fù)雜且精密,主要包括陶瓷漿料制備、內(nèi)電極印刷、疊層、壓制、燒結(jié)、倒角、外電極制備、電鍍、測試分選等多個(gè)環(huán)節(jié),每個(gè)環(huán)節(jié)的工藝參數(shù)控制都會(huì)直接影響 終產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。在陶瓷漿料制備環(huán)節(jié),需要將陶瓷粉末、粘結(jié)劑、溶劑等原料按照精確的比例混合,經(jīng)過球磨等工藝制成均勻細(xì)膩的漿料,確保陶瓷介質(zhì)的一致性和穩(wěn)定性;內(nèi)電極印刷環(huán)節(jié)則采用絲網(wǎng)印刷技術(shù),將金屬漿料(如銀鈀合金、鎳等)印刷在陶瓷生坯薄片上,形成多層交替的內(nèi)電極結(jié)構(gòu);疊層環(huán)節(jié)需將印刷好內(nèi)電極的陶瓷生坯薄片按照設(shè)計(jì)順序精確疊合,保證內(nèi)電極的對準(zhǔn)度;燒結(jié)環(huán)節(jié)是將疊合后的生坯在高溫爐中燒結(jié),使陶瓷介質(zhì)充分致密化,同時(shí)實(shí)現(xiàn)內(nèi)電極與陶瓷介質(zhì)的良好結(jié)合,燒結(jié)溫度和保溫時(shí)間的控制對 MLCC 的介電性能和機(jī)械強(qiáng)度至關(guān)重要。
多層片式陶瓷電容器的等效串聯(lián)電感(ESL)優(yōu)化是提升其高頻性能的主要方向,在 5G 通信、射頻識(shí)別(RFID)等高頻場景中,ESL 過大會(huì)導(dǎo)致信號相位偏移、傳輸損耗增加。為降低 ESL,MLCC 的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不斷創(chuàng)新:一是采用 “疊層交錯(cuò)” 內(nèi)電極布局,將相鄰層的內(nèi)電極引出方向交替設(shè)置,使電流路徑相互抵消,減少磁場疊加;二是縮小外電極間距,將傳統(tǒng) 1206 封裝的外電極間距從 2.5mm 縮短至 1.8mm,進(jìn)一步縮短電流回路長度;三是開發(fā) “低 ESL 封裝”,如方形扁平無引腳(QFN)結(jié)構(gòu)的 MLCC,通過將電極布置在封裝底部,大幅降低寄生電感。目前,高頻 MLCC 的 ESL 可低至 0.3nH 以下,在 2.4GHz 頻段的插入損耗比普通 MLCC 低 2-3dB,滿足 5G 基站天線、毫米波雷達(dá)等高頻設(shè)備的需求。多層片式陶瓷電容器的電容量會(huì)受直流偏置電壓影響,選型時(shí)需充分考慮。

MLCC 的市場格局呈現(xiàn)出明顯的梯隊(duì)分布,國際上由日本村田(Murata)、TDK、太陽誘電(Taiyo Yuden),韓國三星電機(jī)(SEMCO)等幾個(gè)企業(yè)占據(jù)市場主導(dǎo)地位,這些企業(yè)在車規(guī)級、高頻、高容量 MLCC 領(lǐng)域擁有深厚的技術(shù)積累和完善的產(chǎn)品線,憑借優(yōu)異的產(chǎn)品性能和可靠性,普遍供應(yīng)給汽車電子、通信設(shè)備等應(yīng)用領(lǐng)域。中國臺(tái)灣地區(qū)的國巨(Yageo)、華新科(Walsin)等企業(yè)則在消費(fèi)電子 MLCC 市場表現(xiàn)突出,通過規(guī)?;a(chǎn)和成本控制能力,占據(jù)較大的市場份額。中國大陸企業(yè)如風(fēng)華高科、三環(huán)集團(tuán)等近年來發(fā)展迅速,在中低端 MLCC 市場已具備較強(qiáng)的競爭力,產(chǎn)品普遍應(yīng)用于消費(fèi)電子、工業(yè)控制等領(lǐng)域,同時(shí)不斷加大研發(fā)投入,向車規(guī)級MLCC 市場突破,逐步打破國際企業(yè)的壟斷格局。5G基站Massive MIMO天線用多層片式陶瓷電容器多采用0402超小封裝。實(shí)體店高精度多層片式陶瓷電容器自動(dòng)化設(shè)備
高容量多層片式陶瓷電容器通過增加疊層數(shù)量、減薄介質(zhì)層厚度實(shí)現(xiàn)。線上微型多層片式陶瓷電容器自動(dòng)化設(shè)備
MLCC 的容量衰減問題是影響其長期可靠性的重要因素,尤其是 II 類陶瓷 MLCC,在長期使用或特定工作條件下,電容量可能會(huì)出現(xiàn)一定程度的下降,若衰減過度,可能導(dǎo)致電路功能失效。容量衰減的主要原因與陶瓷介質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)變化有關(guān),II 類陶瓷介質(zhì)采用鐵電材料,其電容量來源于電疇的極化,在高溫、高電壓或長期直流偏置作用下,電疇的極化狀態(tài)可能會(huì)逐漸穩(wěn)定,導(dǎo)致可極化的電疇數(shù)量減少,從而引起容量衰減。為改善容量衰減問題,行業(yè)通過優(yōu)化陶瓷介質(zhì)的配方,例如添加稀土元素調(diào)整晶格結(jié)構(gòu),增強(qiáng)電疇的穩(wěn)定性;同時(shí),改進(jìn)燒結(jié)工藝,使陶瓷介質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)更均勻致密,減少缺陷對電疇極化的影響。此外,在應(yīng)用過程中,合理選擇 MLCC 的類型和參數(shù),避免長期在超出額定條件的環(huán)境下使用,也能有效減緩容量衰減速度。線上微型多層片式陶瓷電容器自動(dòng)化設(shè)備
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