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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-07-22

帶有“視距絲”的光學(xué)速測(cè)儀,由于其快速、簡(jiǎn)易,而在短距離(100米以內(nèi))、低精度 (1/200(1/500)的測(cè)量中,如碎部點(diǎn)測(cè)定中,有其優(yōu)勢(shì),得到了廣泛的應(yīng)用。隨著電子測(cè)距技術(shù)的出現(xiàn),**地推動(dòng)了速測(cè)儀的發(fā)展。用電磁波測(cè)距儀代替光學(xué)視距經(jīng)緯儀,使得測(cè)程更大、測(cè)量時(shí)間更短、精度更高。人們將距離由電磁波測(cè)距儀測(cè)定的速測(cè)儀籠統(tǒng)地稱之為“電子速測(cè)儀”(Electronic Tachymeter)。然而,隨著電子測(cè)角技術(shù)的出現(xiàn)。 這一“電子速測(cè)儀”的概念又相應(yīng)地發(fā)生了變化,根據(jù)測(cè)角方法的不同分為半站型電子速測(cè)儀和全站型電子速測(cè)儀。需要指出的是,直接測(cè)量并不僅指著從儀器儀表的刻度盤上直接讀取被測(cè)量的數(shù)值的測(cè)量。高新區(qū)本地電子測(cè)量?jī)x器圖片

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二次元二次元又稱影像儀,影像測(cè)量?jī)x,二維影像測(cè)量?jī)x等,自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x。手動(dòng)影像手動(dòng)影像測(cè)量?jī)x依靠人工操作控制測(cè)量平臺(tái)的X、Y軸的移動(dòng),來(lái)獲取被測(cè)物體的光學(xué)影像,通過(guò)光學(xué)顯微鏡將其放大,經(jīng)過(guò)CCD攝像系統(tǒng)將放大后的物體影像送入計(jì)算機(jī)后,能高效地檢測(cè)各種復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置,進(jìn)而讀取出需要的幾何量尺寸。自動(dòng)影像自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x是在手動(dòng)影像測(cè)量?jī)x基礎(chǔ)上,改人工控制為電腦系統(tǒng)控制X、Y、Z軸的移動(dòng),在選取被測(cè)物體的輪廓、角度等幾何量時(shí),更為精確和方便快捷。已經(jīng)成為國(guó)內(nèi)使用*****的影像測(cè)量?jī)x種類,并有取代手動(dòng)影像測(cè)量?jī)x的趨勢(shì)。昆山本地電子測(cè)量?jī)x器24小時(shí)服務(wù)例如:半導(dǎo)體分立元件測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀等。

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半站型電子速測(cè)儀是指用光學(xué)方法測(cè)角的電子速測(cè)儀,也有稱之為“測(cè)距經(jīng)緯儀”。這種速測(cè)儀出現(xiàn)較早,并且進(jìn)行了不斷的改進(jìn),可將光學(xué)角度讀數(shù)通過(guò)鍵盤輸入到測(cè)距儀,對(duì)斜距進(jìn)行化算,***得出平距、高差、方向角和坐標(biāo)差,這些結(jié)果都可自動(dòng)地傳輸?shù)酵獠看鎯?chǔ)器中。全站型電子速測(cè)儀則是由電子測(cè)角、電子測(cè)距、電子計(jì)算和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元等組成的三維坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),測(cè)量結(jié)果能自動(dòng)顯示,并能與**設(shè)備交換信息的多功能測(cè)量?jī)x器。由于全站型電子速測(cè)儀較完善地實(shí)現(xiàn)了測(cè)量和處理過(guò)程的電子化和一體化,所以人們也通常稱之為全站型電子速測(cè)儀或簡(jiǎn)稱全站儀。

1、將指標(biāo)水準(zhǔn)器改為豎盤指標(biāo)自動(dòng)補(bǔ)償器,提高了豎直角的觀測(cè)速度與準(zhǔn)確性;2、軸系也有很大的改進(jìn),使軸系變得輕便靈活,同時(shí)穩(wěn)定可靠;3、望遠(yuǎn)鏡也由倒像望遠(yuǎn)鏡改成了正像望遠(yuǎn)鏡;4、使用光柵盤或光學(xué)碼盤,用光電轉(zhuǎn)換元件接收信號(hào),經(jīng)數(shù)據(jù)處理后實(shí)現(xiàn)水平角和豎直角讀數(shù)自動(dòng)顯示和記錄。 [1]決定電子經(jīng)緯儀精度的因素由于加工工藝等方面的原因,電子經(jīng)緯儀精度主要由下面的因素決定:1、成像誤差:望遠(yuǎn)鏡成像質(zhì)量包括望遠(yuǎn)鏡鑒別率和像差,望遠(yuǎn)鏡調(diào)焦時(shí)視軸變動(dòng)誤差;二次元又稱影像儀,影像測(cè)量?jī)x,二維影像測(cè)量?jī)x等,自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x。

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進(jìn)入八九十年代以后,隨著微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的日趨完善,以及元器件集成度的**提高,情況發(fā)生了很大的變化。從整機(jī)來(lái)看,電子經(jīng)緯儀的體積和重量與光學(xué)經(jīng)緯儀相差不多,用電量減少,成本大幅度下降,價(jià)格降低。目前在日本一臺(tái)電子經(jīng)緯儀的價(jià)格還略低于光學(xué)經(jīng)緯儀。但電子經(jīng)緯儀的性能及功能卻**增強(qiáng)。由于電子經(jīng)緯儀采用了電子細(xì)分或光電細(xì)分技術(shù)以及碼盤技術(shù),縮小了電子度盤的尺寸,簡(jiǎn)化了生產(chǎn)工藝,提高了測(cè)量精度。電子經(jīng)緯儀只需通過(guò)簡(jiǎn)單的按鍵操作,就可自動(dòng)地進(jìn)行所需的測(cè)量和計(jì)算,并將數(shù)據(jù)清晰地顯示出來(lái)(3)電路參數(shù)的測(cè)量:它包括電阻、電容、電感、阻抗、品質(zhì)因數(shù)、電子器件參數(shù)等。昆山常見(jiàn)電子測(cè)量?jī)x器圖片

星盤的使用需要三個(gè)人合作——一個(gè)人抓住星盤上的拇指環(huán),一個(gè)人瞄準(zhǔn),另外一個(gè)人讀出表盤上的結(jié)果。高新區(qū)本地電子測(cè)量?jī)x器圖片

網(wǎng)絡(luò)特性測(cè)量?jī)x器這類儀器用來(lái)測(cè)量電子電路網(wǎng)絡(luò)的傳輸特性、噪聲特性、阻抗特性等。例如:網(wǎng)絡(luò)分析儀、掃頻儀等。電波特性測(cè)試儀這類儀器主要用于測(cè)量電波傳播、電磁場(chǎng)強(qiáng)度等參量。常用的有場(chǎng)強(qiáng)計(jì)、干擾測(cè)量?jī)x等。電子元器件測(cè)量?jī)x器這類儀器用于測(cè)量元器件的電參數(shù)。例如:半導(dǎo)體分立元件測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀等。數(shù)字電路測(cè)試儀這類儀器專門用于數(shù)字電路的測(cè)試。例如:邏輯脈沖發(fā)生器、邏輯分析儀等。電子測(cè)量輔助儀器這一類輔助儀器有打印機(jī)、測(cè)量變換器、記錄器等。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是-一種多功能的可進(jìn)行綜合性測(cè)量的測(cè)試裝置。例如:大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)、GPIB系統(tǒng)等。高新區(qū)本地電子測(cè)量?jī)x器圖片

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