天鼎檢測如何進行高分子材料的非破壞分析？

江蘇天鼎檢測科技有限公司2025-11-07

高分子材料的非破壞分析是失效分析的重要一環(huán)。我們采用X射線透過視線檢查、超聲掃描檢查、電性能測試、形貌檢查和局部成分分析等手段，對材料進行初步評估。這些非破壞性方法能夠有效保留樣品的完整性，同時提供關鍵的初步信息，幫助我們確定失效現(xiàn)象和環(huán)境。通過這些分析，我們能夠更準確地制定后續(xù)的破壞性分析計劃，確保整個失效分析過程的全方面性和準確性。

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