吉安PCB測(cè)試系統(tǒng)制作

國(guó)磊（Guolei）的SoC測(cè)試機(jī)（如GT600）雖然主要面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）的數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測(cè)試，但其技術(shù)能力與MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）領(lǐng)域存在多維度、深層次的聯(lián)系。盡管MEMS器件本身結(jié)構(gòu)特殊（包含機(jī)械微結(jié)構(gòu)、傳感器/執(zhí)行器等），但在實(shí)際應(yīng)用中，絕大多數(shù)MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測(cè)量單元IMU、麥克風(fēng)、壓力傳感器等），而這些配套電路的測(cè)試正是國(guó)磊SoC測(cè)試機(jī)的**應(yīng)用場(chǎng)景。MEMS-ASIC協(xié)同封裝的測(cè)試需求，現(xiàn)代MEMS產(chǎn)品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質(zhì)集成方案。例如，加速度計(jì)/陀螺儀中的MEMS結(jié)構(gòu)負(fù)責(zé)感知物理量，而配套的ASIC則完成信號(hào)調(diào)理、模數(shù)轉(zhuǎn)換、溫度補(bǔ)償和數(shù)字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I2C/SPI數(shù)字接口，屬于典型的混合信號(hào)SoC。 國(guó)磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數(shù)測(cè)量單元及TMU時(shí)間測(cè)量功能，可***驗(yàn)證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時(shí)序響應(yīng)和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。每通道測(cè)試時(shí)間＜15ms，256通道全測(cè)不超過(guò)60秒，高效節(jié)能。吉安PCB測(cè)試系統(tǒng)制作

高性能GPU的功耗管理直接影響系統(tǒng)穩(wěn)定性與能效比。“風(fēng)華3號(hào)”支持多級(jí)電源域與動(dòng)態(tài)頻率調(diào)節(jié)，要求測(cè)試平臺(tái)具備高精度DC參數(shù)測(cè)量能力。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)每通道集成PPMU，支持nA級(jí)靜態(tài)電流（IDDQ）測(cè)量，可**識(shí)別GPU在待機(jī)、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，支持-2.5V~7V電壓范圍與1A驅(qū)動(dòng)能力，可用于DVFS電壓切換測(cè)試、電源上電時(shí)序（PowerSequencing）驗(yàn)證及電源抑制比（PSRR）分析。GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元提供10ps分辨率，可精確測(cè)量GPU**喚醒延遲、中斷響應(yīng)時(shí)間與時(shí)鐘同步偏差，確保AI訓(xùn)推與實(shí)時(shí)渲染任務(wù)的時(shí)序可靠性。浙江PCB測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)提供測(cè)試向量轉(zhuǎn)換工具，支持從主流商用ATE平臺(tái)遷移HBM相關(guān)測(cè)試程序，降低導(dǎo)入成本。

HBM的集成不****是帶寬提升，更帶來(lái)了復(fù)雜的混合信號(hào)測(cè)試挑戰(zhàn)。SoC與HBM之間的信號(hào)完整性、電源噪聲、時(shí)序?qū)R（Skew）等問(wèn)題，直接影響芯片性能與穩(wěn)定性。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借其模塊化設(shè)計(jì)，支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模擬板卡，實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬”一體化測(cè)試。例如，通過(guò)GT-TMUHA04（10ps分辨率）精確測(cè)量HBM接口時(shí)序偏差，利用GT-AWGLP02（-122dBTHD）生成純凈激勵(lì)信號(hào)，**驗(yàn)證高速SerDes性能。GT600將復(fù)雜問(wèn)題系統(tǒng)化解決，為HBM集成芯片提供從DC參數(shù)到高頻信號(hào)的**測(cè)試保障，確保每一顆芯片都經(jīng)得起AI時(shí)代的嚴(yán)苛考驗(yàn)。

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲(chǔ)、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)?，已成為性能瓶頸的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時(shí)序嚴(yán)苛，對(duì)測(cè)試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國(guó)磊GT600支持400MHz測(cè)試速率，可精細(xì)模擬高速信號(hào)邊沿與時(shí)鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長(zhǎng)周期測(cè)試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測(cè)試中斷或覆蓋不全，真正實(shí)現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗(yàn)證的完整性與可靠性。支持遠(yuǎn)程監(jiān)控，讓您隨時(shí)隨地掌握測(cè)試進(jìn)程。

“風(fēng)華3號(hào)”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對(duì)模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號(hào)完整性與動(dòng)態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對(duì)ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量，確保醫(yī)療顯示場(chǎng)景下的灰階過(guò)渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測(cè)試閉環(huán)。先進(jìn)節(jié)點(diǎn)（如28nm及以下）漏電更敏感，國(guó)磊GT600的PPMU可測(cè)nA級(jí)電流，滿足FinFET等工藝的低功耗驗(yàn)證需求。湘潭導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)工藝

國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可以進(jìn)行低功耗專項(xiàng)測(cè)試流程DVFS驗(yàn)證即自動(dòng)掃描電壓與頻率組合，評(píng)估能效比。吉安PCB測(cè)試系統(tǒng)制作

高精度模擬測(cè)試滿足車規(guī)級(jí)信號(hào)完整性要求 智能駕駛系統(tǒng)高度依賴毫米波雷達(dá)、攝像頭、激光雷達(dá)等傳感器輸入，其前端模擬信號(hào)鏈對(duì)噪聲、失真和時(shí)序精度極為敏感。杭州國(guó)磊GT600配備的GT-AWGLP02 AWG板卡具備-122dB THD與110dB SNR指標(biāo)，可精細(xì)生成高質(zhì)量模擬激勵(lì)信號(hào)；而GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元?jiǎng)t提供10ps分辨率與時(shí)序誤差*±10ps的測(cè)量能力。這些高精度模擬與混合信號(hào)測(cè)試功能，使得GT600能夠***驗(yàn)證AD/DA轉(zhuǎn)換器、高速SerDes接口及電源管理模塊在極端工況下的性能表現(xiàn)，確保智能駕駛SoC在真實(shí)道路環(huán)境中穩(wěn)定可靠運(yùn)行。吉安PCB測(cè)試系統(tǒng)制作