國(guó)產(chǎn)替代高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

    兼容探針臺(tái)與分選機(jī)，打通晶圓到封裝測(cè)試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測(cè)試（CP）與封裝測(cè)試（FT）雙重驗(yàn)證。杭州國(guó)磊GT600支持GPIB、TTL等標(biāo)準(zhǔn)接口，可無(wú)縫對(duì)接主流探針臺(tái)與分選機(jī)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動(dòng)化測(cè)試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級(jí)應(yīng)力測(cè)試條件下，杭州國(guó)磊GT600的小型化、低功耗設(shè)計(jì)有助于在溫控腔體內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性與可重復(fù)性，為芯片通過(guò)AEC-Q100認(rèn)證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國(guó)產(chǎn)**測(cè)試設(shè)備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導(dǎo)體供應(yīng)鏈緊張與技術(shù)封鎖背景下，國(guó)產(chǎn)高性能測(cè)試設(shè)備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國(guó)磊GT600作為國(guó)內(nèi)少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測(cè)試機(jī)，已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認(rèn)可，標(biāo)志著我國(guó)在**ATE領(lǐng)域取得突破。對(duì)于智能駕駛這一關(guān)乎國(guó)家交通安全與科技**的關(guān)鍵賽道，采用國(guó)磊GT600不僅可降低對(duì)國(guó)外測(cè)試設(shè)備的依賴，更能通過(guò)本地化技術(shù)支持快速響應(yīng)芯片廠商的定制需求，加速中國(guó)智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進(jìn)程。 國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工藝節(jié)點(diǎn)的電源門控測(cè)試。國(guó)產(chǎn)替代高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征。許多用于量子計(jì)算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機(jī)前，必須通過(guò)常溫下的嚴(yán)格電性測(cè)試進(jìn)行預(yù)篩選。國(guó)磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測(cè)量單元）和可編程浮動(dòng)電源（-2.5V~7V），能精確測(cè)量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測(cè)試資源浪費(fèi)。量子測(cè)控SoC的量產(chǎn)驗(yàn)證平臺(tái) 隨著量子計(jì)算機(jī)向百比特以上規(guī)模演進(jìn)，集成化“量子測(cè)控SoC”成為趨勢(shì)（如Intel的Horse Ridge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號(hào)調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測(cè)試能力、128M向量深度及400MHz測(cè)試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗(yàn)證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。SIR測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)的10ps分辨率TMU可用于驗(yàn)證先進(jìn)節(jié)點(diǎn)下更嚴(yán)格的時(shí)序窗口，如快速喚醒與電源切換延遲。

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的“量產(chǎn)引擎” 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)（IIoT）設(shè)備對(duì)芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國(guó)磊GT600的512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，可一次測(cè)試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測(cè)試吞吐量，***降低單顆測(cè)試成本。據(jù)行業(yè)測(cè)算，同測(cè)數(shù)每翻一倍，測(cè)試成本可下降30%以上。杭州國(guó)磊GT600支持長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，篩選出能在高溫、高濕、強(qiáng)電磁干擾環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的“工業(yè)級(jí)”芯片。其GTFY系統(tǒng)支持STDF數(shù)據(jù)導(dǎo)出，可無(wú)縫對(duì)接工廠MES系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)良率分析與智能制造。杭州國(guó)磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優(yōu)勢(shì)，為國(guó)產(chǎn)IIoT芯片的大規(guī)模量產(chǎn)提供強(qiáng)大引擎，助力中國(guó)智造走向全球。

國(guó)產(chǎn)替代的“自主基石” 在美國(guó)對(duì)華**半導(dǎo)體設(shè)備禁運(yùn)的背景下，國(guó)產(chǎn)測(cè)試機(jī)成為“卡脖子”環(huán)節(jié)的突圍重點(diǎn)。杭州國(guó)磊GT600作為國(guó)產(chǎn)**SoC測(cè)試平臺(tái)，支持C++編程、Visual Studio開發(fā)環(huán)境，軟件系統(tǒng)開放可控，避免依賴國(guó)外“黑盒子”軟件。其硬件架構(gòu)靈活，16個(gè)通用插槽可適配國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)、分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)全鏈路本土化集成。交期短、響應(yīng)快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業(yè)對(duì)供應(yīng)鏈安全與數(shù)據(jù)保密的嚴(yán)苛要求。杭州國(guó)磊GT600的出現(xiàn)，標(biāo)志著中國(guó)在**測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域從“跟跑”向“并跑”邁進(jìn)。它不僅是工具，更是中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈自主可控戰(zhàn)略的“隱形支柱”，為國(guó)產(chǎn)芯片的持續(xù)創(chuàng)新提供堅(jiān)實(shí)底座。精確的閾值判定，及時(shí)報(bào)警，有效保護(hù)您的樣品。

手機(jī)SoC的“全能考官” 現(xiàn)代手機(jī)SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級(jí)計(jì)算機(jī)”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數(shù)十個(gè)模塊。杭州國(guó)磊GT600憑借512通道與16個(gè)通用插槽，可靈活配置數(shù)字、模擬、混合信號(hào)測(cè)試資源，實(shí)現(xiàn)“一機(jī)通測(cè)”。其高速數(shù)字通道驗(yàn)證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號(hào)，測(cè)試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測(cè)量基帶信號(hào)時(shí)序，保障5G通信穩(wěn)定。PPMU則檢測(cè)NPU待機(jī)功耗，確保AI功能“強(qiáng)勁且省電”。128M向量深度支持長(zhǎng)周期AI算法驗(yàn)證，避免測(cè)試中斷。杭州國(guó)磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測(cè)試能力，為國(guó)產(chǎn)手機(jī)SoC從研發(fā)到量產(chǎn)保駕護(hù)航，讓中國(guó)芯在**手機(jī)市場(chǎng)更具競(jìng)爭(zhēng)力。離子遷移試驗(yàn)是確保電子產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵。廣東CAF測(cè)試系統(tǒng)制作

您正在為尋找可靠的高阻測(cè)試方案而煩惱嗎？看這里就購(gòu)了。國(guó)產(chǎn)替代高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

面對(duì)AI架構(gòu)日新月異（如存算一體、稀疏計(jì)算、類腦芯片），測(cè)試平臺(tái)必須具備高度靈活性。GT600采用開放軟件架構(gòu)，支持C++、Python及Visual Studio開發(fā)環(huán)境，允許用戶自定義測(cè)試邏輯、數(shù)據(jù)分析模塊與自動(dòng)化腳本。高校、初創(chuàng)企業(yè)甚至“六小龍”中的技術(shù)團(tuán)隊(duì)均可基于GT600快速搭建專屬驗(yàn)證方案，無(wú)需依賴封閉廠商的黑盒工具鏈。這種開放性極大縮短了從算法原型到芯片驗(yàn)證的周期，使杭州成為AI芯片創(chuàng)新的“快速試驗(yàn)田”。GT600不僅是量產(chǎn)設(shè)備，更是推動(dòng)中國(guó)AI底層硬件從“跟隨”走向“原創(chuàng)”的創(chuàng)新引擎。國(guó)產(chǎn)替代高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)