高性能PCB測試系統(tǒng)廠家

科研創(chuàng)新的“開放平臺” 在高校與科研院所，芯片研發(fā)需要高度靈活的測試環(huán)境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統(tǒng)支持C++/Python編程，研究人員可自由開發(fā)測試算法，驗(yàn)證新型架構(gòu)（如存算一體、類腦芯片）。其16個(gè)通用插槽可接入自研測試板卡，實(shí)現(xiàn)定制化測量。128M向量深度支持復(fù)雜實(shí)驗(yàn)程序運(yùn)行，避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺接口，便于對晶圓上裸片進(jìn)行特性表征。在國產(chǎn)芯片從“模仿”到“創(chuàng)新”的轉(zhuǎn)型中，杭州國磊GT600不僅是量產(chǎn)工具，更是科研探索的“開放實(shí)驗(yàn)臺”，為下一代半導(dǎo)體技術(shù)的突破提供關(guān)鍵支持。國磊GT600高達(dá)512個(gè)數(shù)字通道，可同時(shí)測試集成模擬模塊的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能驗(yàn)證。高性能PCB測試系統(tǒng)廠家

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構(gòu) 當(dāng)前智能駕駛SoC廠商采用異構(gòu)計(jì)算架構(gòu)，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協(xié)議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個(gè)通用插槽，支持?jǐn)?shù)字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設(shè)計(jì)使測試平臺能快速適配英偉達(dá)Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構(gòu)芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復(fù)用率與投資回報(bào)率。吉安CAF測試系統(tǒng)批發(fā)國磊GT600在400MHz速率下測試SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能驗(yàn)證。

環(huán)境應(yīng)力測試兼容性，部分工業(yè)或車規(guī)級MEMS需在高低溫、高濕等環(huán)境下工作。國磊（Guolei）GT600支持與溫控探針臺/分選機(jī)聯(lián)動，通過GPIB/TTL接口實(shí)現(xiàn)自動化環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）。其小型化、低功耗設(shè)計(jì)也便于集成到溫箱內(nèi)部，確保在-40℃~125℃范圍內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行，滿足AEC-Q100等車規(guī)認(rèn)證要求。國產(chǎn)替代保障MEMS產(chǎn)業(yè)鏈安全 中國是全球比較大的MEMS消費(fèi)市場，但**MEMS芯片及測試設(shè)備長期依賴進(jìn)口。國磊（Guolei）GT600作為國產(chǎn)高性能ATE，已在部分國內(nèi)MEMS廠商中部署，用于替代Teradyne J750或Advantest T2000等平臺。這不僅降低采購與維護(hù)成本，更避免因國際供應(yīng)鏈波動影響產(chǎn)能，助力構(gòu)建“MEMS設(shè)計(jì)—制造—封裝—測試”全鏈條自主可控生態(tài)。雖然國磊SoC測試機(jī)不直接測試MEMS的機(jī)械結(jié)構(gòu)（如諧振頻率、Q值等需**激光多普勒或阻抗分析儀），但它精細(xì)覆蓋了MEMS產(chǎn)品中占比70%以上的電子功能測試環(huán)節(jié)。隨著MEMS向智能化、集成化、高精度方向發(fā)展，其配套SoC/ASIC的復(fù)雜度將持續(xù)提升，對測試設(shè)備的要求也將水漲船高。國磊（Guolei）GT600憑借高精度、高靈活性與國產(chǎn)化優(yōu)勢，正成為支撐中國MEMS產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的關(guān)鍵測試基礎(chǔ)設(shè)施。

隨著智能手機(jī)進(jìn)入AI時(shí)代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉(zhuǎn)向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數(shù)據(jù)顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預(yù)計(jì)2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構(gòu)設(shè)計(jì)的**，更是對NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元）和AI工作負(fù)載深度優(yōu)化的結(jié)果。而這類高度集成的AISoC，對測試設(shè)備提出了前所未有的挑戰(zhàn)：高引腳數(shù)、多電源域、復(fù)雜時(shí)序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產(chǎn)前完成**驗(yàn)證。國磊GT600測試機(jī)正是為此類**手機(jī)SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數(shù)、從數(shù)字到模擬的全棧測試能力。國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀(jì)、天璣NPU低功耗狀態(tài)機(jī)、喚醒延遲、靜態(tài)電流與混合信號接口驗(yàn)證。

    1.高邊沿精度保障高速接口時(shí)序合規(guī)性?，F(xiàn)代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于連接傳感器與**計(jì)算單元。這些接口對信號邊沿時(shí)序要求極為嚴(yán)苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度，能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕獲實(shí)際輸出波形，驗(yàn)證眼圖、抖動與建立/保持時(shí)間是否符合協(xié)議規(guī)范。這種高精度時(shí)序控制能力，是確保車載高速通信鏈路穩(wěn)定性的關(guān)鍵測試手段。開放式軟件生態(tài)賦能定制化測試開發(fā)。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環(huán)境，允許客戶根據(jù)自身芯片特性開發(fā)定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言，這意味著可將內(nèi)部驗(yàn)證方法論（如ISO26262功能安全測試用例）直接嵌入測試程序，實(shí)現(xiàn)自動化安全機(jī)制驗(yàn)證。同時(shí)，圖形化數(shù)據(jù)顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊，大幅提升調(diào)試效率，縮短芯片迭代周期。 國磊GT600憑高精度參數(shù)測量、多域電源控制與可編程軟件平臺，支持從90nm到7nm主流工藝節(jié)點(diǎn)電源門控測試。廣州絕緣電阻測試系統(tǒng)供應(yīng)

國磊GT600支持電壓/電流源同步掃描功能，可用于BGR（帶隙基準(zhǔn)）溫度特性與電源抑制比（PSRR）自動化測試。高性能PCB測試系統(tǒng)廠家

集成PPMU與動態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流與A級動態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，搶占市場先機(jī)。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點(diǎn)并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級測試流水線”，實(shí)現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計(jì)算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實(shí)驗(yàn)臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。高性能PCB測試系統(tǒng)廠家