可提供單維磁場(chǎng)，多維磁場(chǎng)探針臺(tái)，磁場(chǎng)強(qiáng)度，精度和間隙均可客制化l高剛性結(jié)構(gòu)，所有零配件均采用無(wú)磁化材料可加載高低溫，可同時(shí)進(jìn)行DC和RF測(cè)試，可配合市場(chǎng)主流擴(kuò)頻模塊進(jìn)行超高頻測(cè)試；大行程高精度探針座，X-Y-Z-Theta四軸控制l顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內(nèi)移動(dòng)，擴(kuò)大了顯微鏡視場(chǎng)；兼容直流與高頻信號(hào)；可以定制，可升級(jí)性強(qiáng)l比較大可以測(cè)試12英寸樣品，探針臺(tái)chuck具備升降功能，便于樣品和探針的快速分離?？膳浜系入x子發(fā)生器使用，可以給樣品提供超高溫和等離子氣體。探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)。江蘇GaAs探針臺(tái)高精度探針臺(tái)例如OTS，QPU和TTG相關(guān)技術(shù)，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小...

光電流測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)是在金相顯微鏡基礎(chǔ)上導(dǎo)入另一路光源，用于輻照樣品以測(cè)試樣品在特定波長(zhǎng)及能量下的電氣特性等測(cè)試目的。l本顯微鏡設(shè)計(jì)為雙光路或3光路，其中一路為導(dǎo)入光通路，另一到兩路為成像光路導(dǎo)入光為平行的激光或其它線性光源，波長(zhǎng)范圍200nm~20000nm，中間可加入多個(gè)波片過濾，起偏及偏振角度無(wú)級(jí)360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。l所有模塊均可拉出設(shè)計(jì)，對(duì)導(dǎo)入光性質(zhì)無(wú)影響。導(dǎo)入光光路可選擇一個(gè)光時(shí)間開關(guān)，精確控制導(dǎo)入光的輻照時(shí)間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對(duì)各種參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)設(shè)置。成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.2...

手動(dòng)探針臺(tái)是廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的綜合經(jīng)濟(jì)型測(cè)試儀器，主要用于半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)檢測(cè)。手動(dòng)探針臺(tái)是通過兩根探針以及吸片盤夠成的回路以及相應(yīng)大型電參數(shù)測(cè)試儀對(duì)芯片中的集成電路進(jìn)行檢測(cè)的。應(yīng)用范圍：手動(dòng)探針臺(tái)主要用于對(duì)生產(chǎn)及科研中的集成電路、三極管、二極管、可控硅及敏感元件管芯的電壓、電流、電阻等參數(shù)進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試。極低溫測(cè)試:因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測(cè)試時(shí)，空氣中的水汽會(huì)凝結(jié)在晶圓上，會(huì)導(dǎo)致漏電過大或者探針無(wú)法接觸電極而使測(cè)試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。高溫?zé)o氧化測(cè)試：當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí)，氧化現(xiàn)象會(huì)越來越明顯，...

到手動(dòng)探針臺(tái)，它的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。它是陳本比較高的儀器，不光是要在使用時(shí)好好維護(hù)，不用時(shí)也需要好好保存。怎樣保存呢？1、儀器的運(yùn)輸：儀器運(yùn)輸時(shí)，請(qǐng)先拔掉電源線插頭。儀器運(yùn)輸應(yīng)使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺(tái)的任何運(yùn)動(dòng)部件。2、避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺(tái)時(shí)應(yīng)避免碰撞，機(jī)體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機(jī)器發(fā)生故障或異常異音。3、停電或長(zhǎng)期不用、外出旅行時(shí)，請(qǐng)將電源線插頭拔掉以維護(hù)手動(dòng)探針臺(tái)壽命。4、手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)放在穩(wěn)定可靠的臺(tái)面上，比如具有防震裝置的工作臺(tái)上，避免在高溫，潮濕激...

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類，即：以美國(guó)EG公司為**的平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)（又叫磁性氣浮工作臺(tái)）自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以日本及歐洲國(guó)家生產(chǎn)的采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待。探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)和故障失效分析。高低溫探針臺(tái)維保高精度探針臺(tái)例如OTS，QPU和TTG相關(guān)...

高低溫探針臺(tái)優(yōu)勢(shì)1.滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測(cè)試時(shí)，空氣中的水汽會(huì)凝結(jié)在晶圓上，會(huì)導(dǎo)致漏電過大而使測(cè)試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí)，氧化現(xiàn)象會(huì)越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過度氧化會(huì)導(dǎo)致晶圓電性誤差，物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。晶圓測(cè)試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件間會(huì)有相對(duì)位移，這時(shí)需要針座的重新定位，我們針座位于腔體外部...

RF/mmW超高頻測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)可配合市場(chǎng)主流擴(kuò)頻模塊進(jìn)行超高頻測(cè)試l大行程高精度探針座，X-Y-Z-Theta四軸控制l顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內(nèi)移動(dòng)，擴(kuò)大了顯微鏡視場(chǎng)l兼容直流與高頻信號(hào)l可以定制，可升級(jí)性強(qiáng)lFA(失效分析)**激光探針臺(tái)系統(tǒng)失效分析實(shí)驗(yàn)室**（芯片去層/線路或Pad切割與熔接電性能測(cè)試驗(yàn)證）l激光鐳射波長(zhǎng)1064/532/355nm可選擇性去除特定材料、而不損傷下層或基底l材料/器件（尤其是射頻特征芯片）的IV/PIV/CV電性測(cè)試和失效分析。l**小切割線寬：355nm1um;，行程25mm，升降精度1uml卡盤，采用中心吸附孔和多圈吸附環(huán)固...

探針臺(tái)-高低溫真空光電測(cè)試系統(tǒng)功能：用于測(cè)試半導(dǎo)體器件，材料，發(fā)光器件等綜合性能表征系統(tǒng)，可測(cè)試參數(shù)包括：暗電流、光電流、光電壓（光伏器件）、響應(yīng)速度、光譜響應(yīng)、變光強(qiáng)的R~P響應(yīng)等。系統(tǒng)由光源、探針臺(tái)和光電測(cè)試三部分組成，根據(jù)用戶需求，三大部分可以進(jìn)行定制化開發(fā)，以實(shí)現(xiàn)不同光譜覆蓋范圍、不同測(cè)試環(huán)境和不同測(cè)試功能的實(shí)現(xiàn)。探針臺(tái)可選項(xiàng)： 低溫/常溫/高溫、有背柵/無(wú)背柵、光纖導(dǎo)入/無(wú)光纖、有磁場(chǎng)/無(wú)磁場(chǎng)、真空/非真空 等。探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。山東高低溫探針臺(tái)低溫探針臺(tái)中低電流測(cè)量的注意事項(xiàng)：低電流測(cè)量（低于 1 nA）是評(píng)估成熟和新興半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)和...

探針臺(tái)由哪些部分組成？1.樣品臺(tái)（載物臺(tái)）載物臺(tái)是定位晶圓或芯片的部件設(shè)備。通常會(huì)根據(jù)晶圓的尺寸來設(shè)計(jì)大小，并配套了相應(yīng)的精密移動(dòng)定位功能?？寺逯Z斯科技自主研發(fā)的超精密氣浮運(yùn)動(dòng)平臺(tái)就是作為定位晶圓或芯片的部件設(shè)備，重復(fù)定位精度達(dá)±50納米，可以依靠精密機(jī)械運(yùn)作在極短的曝光時(shí)間內(nèi)完美定位，完成晶圓在量測(cè)端的極精密的檢測(cè)。2.光學(xué)元件這個(gè)部件的作用是能夠從視覺上放大觀察待測(cè)物，以便精確地將探針前列對(duì)準(zhǔn)并放置在待測(cè)晶圓/芯片的測(cè)量點(diǎn)上。3.卡盤有一個(gè)非常平坦的金屬表面，卡盤用夾具來固定待測(cè)物，或使用真空來吸附晶圓。探針臺(tái)如何工作？探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探...

你了解低溫探針臺(tái)嗎？估計(jì)了解的人很少，因?yàn)樗饕糜诳蒲形覀兤綍r(shí)很少用到。但是，一些關(guān)于它的基礎(chǔ)知識(shí)還是需要了解一下的。下面小編就給大家介紹一下，希望能對(duì)大家有所幫助。低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、微電子、固體物理、超導(dǎo)等研究冷域，是研究材料的電阻率、磁電阻等各種物理特性的有力工具。穩(wěn)定、可靠、方便的改變?cè)诤艿偷恼婵蘸蜏囟认聦?duì)器件和電路的探測(cè)。內(nèi)置振動(dòng)隔離，智能熱管理，使用低排放的材料，先進(jìn)的密封性，使該系統(tǒng)非常適合一系列需要更好的真空水平的應(yīng)用，如石墨烯的研究，分子電子學(xué)等的，系統(tǒng)采用閉式循環(huán)制冷機(jī)和專有的熱管理，可以經(jīng)濟(jì)快速的操作。內(nèi)置的隔振小化振動(dòng)符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。超穩(wěn)定...

到手動(dòng)探針臺(tái)，它的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。它是陳本比較高的儀器，不光是要在使用時(shí)好好維護(hù)，不用時(shí)也需要好好保存。怎樣保存呢？1、儀器的運(yùn)輸：儀器運(yùn)輸時(shí)，請(qǐng)先拔掉電源線插頭。儀器運(yùn)輸應(yīng)使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺(tái)的任何運(yùn)動(dòng)部件。2、避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺(tái)時(shí)應(yīng)避免碰撞，機(jī)體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機(jī)器發(fā)生故障或異常異音。3、停電或長(zhǎng)期不用、外出旅行時(shí)，請(qǐng)將電源線插頭拔掉以維護(hù)手動(dòng)探針臺(tái)壽命。4、手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)放在穩(wěn)定可靠的臺(tái)面上，比如具有防震裝置的工作臺(tái)上，避免在高溫，潮濕激...

到手動(dòng)探針臺(tái)，它的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。它是陳本比較高的儀器，不光是要在使用時(shí)好好維護(hù)，不用時(shí)也需要好好保存。怎樣保存呢？1、儀器的運(yùn)輸：儀器運(yùn)輸時(shí)，請(qǐng)先拔掉電源線插頭。儀器運(yùn)輸應(yīng)使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺(tái)的任何運(yùn)動(dòng)部件。2、避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺(tái)時(shí)應(yīng)避免碰撞，機(jī)體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機(jī)器發(fā)生故障或異常異音。3、停電或長(zhǎng)期不用、外出旅行時(shí)，請(qǐng)將電源線插頭拔掉以維護(hù)手動(dòng)探針臺(tái)壽命。4、手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)放在穩(wěn)定可靠的臺(tái)面上，比如具有防震裝置的工作臺(tái)上，避免在高溫，潮濕激...

探針臺(tái)主要被應(yīng)用在半導(dǎo)體、集成電路以及封裝的測(cè)試，主要是保證產(chǎn)品的質(zhì)量，且縮短制造成本。按照不同功能，探針臺(tái)可被分為多種類型，如LCD探針臺(tái)、高/低溫探針臺(tái)、RF探針臺(tái)。受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，探針臺(tái)應(yīng)用需求持續(xù)攀升，行業(yè)發(fā)展前景較好。半導(dǎo)體檢測(cè)是半導(dǎo)體生產(chǎn)中關(guān)鍵一環(huán)，在半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)結(jié)構(gòu)中，探針臺(tái)占比約為16%。在全球中，受益于智能手機(jī)、人工智能等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，半導(dǎo)體需求攀升，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模也隨之增長(zhǎng)，在2021年達(dá)到76億美元。探針臺(tái)作為重要設(shè)備，受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展，市場(chǎng)需求持續(xù)攀升，市場(chǎng)規(guī)模持續(xù)增長(zhǎng)。半導(dǎo)體測(cè)驗(yàn)設(shè)備首要包含測(cè)機(jī)、探針臺(tái)和分選機(jī)。湖南探針臺(tái)升級(jí)可提供單維磁場(chǎng)...

探針臺(tái)主要被應(yīng)用在半導(dǎo)體、集成電路以及封裝的測(cè)試，主要是保證產(chǎn)品的質(zhì)量，且縮短制造成本。按照不同功能，探針臺(tái)可被分為多種類型，如LCD探針臺(tái)、高/低溫探針臺(tái)、RF探針臺(tái)。受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，探針臺(tái)應(yīng)用需求持續(xù)攀升，行業(yè)發(fā)展前景較好。半導(dǎo)體檢測(cè)是半導(dǎo)體生產(chǎn)中關(guān)鍵一環(huán)，在半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)結(jié)構(gòu)中，探針臺(tái)占比約為16%。在全球中，受益于智能手機(jī)、人工智能等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，半導(dǎo)體需求攀升，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模也隨之增長(zhǎng)，在2021年達(dá)到76億美元。探針臺(tái)作為重要設(shè)備，受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展，市場(chǎng)需求持續(xù)攀升，市場(chǎng)規(guī)模持續(xù)增長(zhǎng)。電路板各通道及載體高頻高速測(cè)試。LCR測(cè)試探針臺(tái)維修低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損...

探針臺(tái)主要被應(yīng)用在半導(dǎo)體、集成電路以及封裝的測(cè)試，主要是保證產(chǎn)品的質(zhì)量，且縮短制造成本。按照不同功能，探針臺(tái)可被分為多種類型，如LCD探針臺(tái)、高/低溫探針臺(tái)、RF探針臺(tái)。受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，探針臺(tái)應(yīng)用需求持續(xù)攀升，行業(yè)發(fā)展前景較好。半導(dǎo)體檢測(cè)是半導(dǎo)體生產(chǎn)中關(guān)鍵一環(huán)，在半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)結(jié)構(gòu)中，探針臺(tái)占比約為16%。在全球中，受益于智能手機(jī)、人工智能等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，半導(dǎo)體需求攀升，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模也隨之增長(zhǎng)，在2021年達(dá)到76億美元。探針臺(tái)作為重要設(shè)備，受益于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展，市場(chǎng)需求持續(xù)攀升，市場(chǎng)規(guī)模持續(xù)增長(zhǎng)。低溫探針臺(tái)中低電流測(cè)量的注意事項(xiàng)有哪些？低阻測(cè)試探針臺(tái)探針臺(tái)的各種應(yīng)用，...

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類，即：以美國(guó)EG公司為**的平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)（又叫磁性氣浮工作臺(tái)）自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以日本及歐洲國(guó)家生產(chǎn)的采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待。電路板各通道及載體高頻高速測(cè)試。PCB探針臺(tái)推薦廠家 根據(jù)新思界產(chǎn)業(yè)研究中心發(fā)布的《20...

半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展，探針臺(tái)市場(chǎng)需求攀升，新思界產(chǎn)業(yè)分析人士表示，探針臺(tái)是半導(dǎo)體、晶圓、集成電路中重要的檢測(cè)設(shè)備，隨著全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)向中國(guó)轉(zhuǎn)移，我國(guó)探針臺(tái)市場(chǎng)需求持續(xù)攀升。當(dāng)前受益于5G、人工智能等產(chǎn)業(yè)發(fā)展帶動(dòng)，半導(dǎo)體芯片出貨量維持增長(zhǎng)趨勢(shì)，則探針臺(tái)行業(yè)長(zhǎng)期景氣。在生產(chǎn)方面，長(zhǎng)期以來探針臺(tái)市場(chǎng)被日企壟斷，臺(tái)企在市場(chǎng)中具有一定影響力，而國(guó)內(nèi)企業(yè)在全球中占比較小。但隨著國(guó)內(nèi)探針臺(tái)生產(chǎn)技術(shù)不斷革新，國(guó)產(chǎn)化率提升，預(yù)計(jì)未來不久將實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)替代。探針臺(tái)搭配網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行測(cè)試。MOSFET探針臺(tái)配件探針臺(tái)如何工作？探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使...

手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。5.待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，...

低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、微電子、固體物理、超導(dǎo)等研究冷域，是研究材料的電阻率、磁電阻等各種物理特性的有力工具。穩(wěn)定、可靠、方便的改變?cè)诤艿偷恼婵蘸蜏囟认聦?duì)器件和電路的探測(cè)。內(nèi)置振動(dòng)隔離，智能熱管理，使用低排放的材料，先進(jìn)的密封性，使該系統(tǒng)非常適合一系列需要更好的真空水平的應(yīng)用，如石墨烯的研究，分子電子學(xué)等的，系統(tǒng)采用閉式循環(huán)制冷機(jī)和專有的熱管理，可以經(jīng)濟(jì)快速的操作。內(nèi)置的隔振小化振動(dòng)符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。超穩(wěn)定的微操縱滿足設(shè)備探針的準(zhǔn)確和可重復(fù)的接觸。低溫探針臺(tái)集成系統(tǒng)有以下特點(diǎn)：1、在真空探針臺(tái)下進(jìn)行完整的霍爾效應(yīng)測(cè)試的系統(tǒng)。2、支持一系列直流條件下霍爾效應(yīng)測(cè)試。3、變溫范...

低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、微電子、固體物理、超導(dǎo)等研究冷域，是研究材料的電阻率、磁電阻等各種物理特性的有力工具。穩(wěn)定、可靠、方便的改變?cè)诤艿偷恼婵蘸蜏囟认聦?duì)器件和電路的探測(cè)。內(nèi)置振動(dòng)隔離，智能熱管理，使用低排放的材料，先進(jìn)的密封性，使該系統(tǒng)非常適合一系列需要更好的真空水平的應(yīng)用，如石墨烯的研究，分子電子學(xué)等的，系統(tǒng)采用閉式循環(huán)制冷機(jī)和專有的熱管理，可以經(jīng)濟(jì)快速的操作。內(nèi)置的隔振小化振動(dòng)符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。超穩(wěn)定的微操縱滿足設(shè)備探針的準(zhǔn)確和可重復(fù)的接觸。低溫探針臺(tái)集成系統(tǒng)有以下特點(diǎn)：1、在真空探針臺(tái)下進(jìn)行完整的霍爾效應(yīng)測(cè)試的系統(tǒng)。2、支持一系列直流條件下霍爾效應(yīng)測(cè)試。3、變溫范...

波銘科儀CH-196高低溫真空探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款在極端環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號(hào)的設(shè)備?？梢詫?shí)現(xiàn)器件及材料表征的IV/CV特性測(cè)試，射頻測(cè)試，光電測(cè)試等。通過液氮或者壓縮機(jī)制冷，可以在防輻射屏內(nèi)營(yíng)造一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境。在特殊材料，半導(dǎo)體器件等研究方向具有***運(yùn)用。一般用于相關(guān)單位實(shí)驗(yàn)室。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：防輻射屏和熱沉設(shè)計(jì)降溫速度快，常溫降至77k<25mins，提高測(cè)試效率液氮自動(dòng)控制系統(tǒng)，液氮流量模塊和溫度控制模塊一起聯(lián)動(dòng)共同控制溫度。探針臺(tái)chuck具備升降功能，便于樣品和探針的快速分離。非標(biāo)探針臺(tái)系統(tǒng) 探針臺(tái)的工作原理1.探針臺(tái)工作原理將待測(cè)物吸附在載物臺(tái)上后推入探針臺(tái)腔體內(nèi)...

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3 ℃，濕度≤70%，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過多，值得指出的是，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過程中，從直線導(dǎo)軌的直線性，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性，定位精度等都是用...

探針臺(tái)是半導(dǎo)體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業(yè)重要的檢測(cè)配備之一，其廣泛應(yīng)用于雜亂、高速器材的ing密電氣測(cè)量，旨在保證質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)刻和器材制作工藝的本錢。探計(jì)臺(tái)用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)驗(yàn)環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針觸模并逐人測(cè)驗(yàn)。在半導(dǎo)體器材與集成電路制作工藝中，從單晶硅棒的制取到ZU終器材制作的完結(jié)需經(jīng)過雜亂的工序，可分為前道工序與后道工序，探針臺(tái)是檢測(cè)半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。探針臺(tái)的正確配置選型。南昌探針臺(tái)配件無(wú)論是芯片設(shè)計(jì)的可靠性驗(yàn)證測(cè)試，或是晶圓量產(chǎn)中的WAT測(cè)試和CP測(cè)試，探針臺(tái)在其中起著至關(guān)重要的作...

低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、微電子、固體物理、超導(dǎo)等研究冷域，是研究材料的電阻率、磁電阻等各種物理特性的有力工具。穩(wěn)定、可靠、方便的改變?cè)诤艿偷恼婵蘸蜏囟认聦?duì)器件和電路的探測(cè)。內(nèi)置振動(dòng)隔離，智能熱管理，使用低排放的材料，先進(jìn)的密封性，使該系統(tǒng)非常適合一系列需要更好的真空水平的應(yīng)用，如石墨烯的研究，分子電子學(xué)等的，系統(tǒng)采用閉式循環(huán)制冷機(jī)和專有的熱管理，可以經(jīng)濟(jì)快速的操作。內(nèi)置的隔振小化振動(dòng)符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。超穩(wěn)定的微操縱滿足設(shè)備探針的準(zhǔn)確和可重復(fù)的接觸。低溫探針臺(tái)集成系統(tǒng)有以下特點(diǎn)：1、在真空探針臺(tái)下進(jìn)行完整的霍爾效應(yīng)測(cè)試的系統(tǒng)。2、支持一系列直流條件下霍爾效應(yīng)測(cè)試。3、變溫范...

探針臺(tái)-高低溫真空光電測(cè)試系統(tǒng)功能：用于測(cè)試半導(dǎo)體器件，材料，發(fā)光器件等綜合性能表征系統(tǒng)，可測(cè)試參數(shù)包括：暗電流、光電流、光電壓（光伏器件）、響應(yīng)速度、光譜響應(yīng)、變光強(qiáng)的R~P響應(yīng)等。系統(tǒng)由光源、探針臺(tái)和光電測(cè)試三部分組成，根據(jù)用戶需求，三大部分可以進(jìn)行定制化開發(fā)，以實(shí)現(xiàn)不同光譜覆蓋范圍、不同測(cè)試環(huán)境和不同測(cè)試功能的實(shí)現(xiàn)。探針臺(tái)可選項(xiàng)： 低溫/常溫/高溫、有背柵/無(wú)背柵、光纖導(dǎo)入/無(wú)光纖、有磁場(chǎng)/無(wú)磁場(chǎng)、真空/非真空 等。了解探針臺(tái)的使用步驟。SiC探針臺(tái)維修 平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)，平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎(chǔ)平臺(tái)...

無(wú)論是芯片設(shè)計(jì)的可靠性驗(yàn)證測(cè)試，或是晶圓量產(chǎn)中的WAT測(cè)試和CP測(cè)試，探針臺(tái)在其中起著至關(guān)重要的作用。探針臺(tái)設(shè)備主要技術(shù)壁壘在系統(tǒng)的精細(xì)定位、微米級(jí)運(yùn)動(dòng)以及高準(zhǔn)確率通信等關(guān)鍵參數(shù)。目前全球主要探針臺(tái)市場(chǎng)仍主要被美、日、韓等國(guó)所占據(jù)。近年來在國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的大力扶持下，國(guó)產(chǎn)化技術(shù)的發(fā)展進(jìn)程不斷加快，中國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè)將加速迎來國(guó)產(chǎn)替代的機(jī)會(huì)。在國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體設(shè)備市場(chǎng)中，探針臺(tái)是我國(guó)目前能實(shí)現(xiàn)高國(guó)產(chǎn)化率的設(shè)備。低溫探針臺(tái)中低電流測(cè)量的注意事項(xiàng)有哪些？IGBT探針臺(tái)商家手動(dòng)探針臺(tái)的維護(hù)和保養(yǎng)1.避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺(tái)時(shí)應(yīng)避免碰撞，機(jī)體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機(jī)器發(fā)生故障或異常異音。2...

探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試。可以在將晶圓鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。光電流測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)。fA級(jí)漏電探針臺(tái)規(guī)格 平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)，平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成，它和傳統(tǒng)的...

探針臺(tái)是半導(dǎo)體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業(yè)重要的檢測(cè)配備之一，其廣泛應(yīng)用于雜亂、高速器材的ing密電氣測(cè)量，旨在保證質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)刻和器材制作工藝的本錢。探計(jì)臺(tái)用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)驗(yàn)環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針觸模并逐人測(cè)驗(yàn)。在半導(dǎo)體器材與集成電路制作工藝中，從單晶硅棒的制取到ZU終器材制作的完結(jié)需經(jīng)過雜亂的工序，可分為前道工序與后道工序，探針臺(tái)是檢測(cè)半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。SiC探針臺(tái)技術(shù)改造低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、...

自動(dòng)探針臺(tái)是一款適合6寸、8寸、12寸晶圓的量產(chǎn)型全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)，通過使探針卡與晶圓Pad點(diǎn)之間精細(xì)接觸，實(shí)現(xiàn)完成晶圓WAT/CP測(cè)試，該設(shè)備操作簡(jiǎn)單并具有良好的機(jī)械穩(wěn)定性，能為客戶提供一個(gè)具有成本優(yōu)勢(shì)且高產(chǎn)量的晶圓測(cè)試解決方案，滿足晶圓廠、封測(cè)廠、測(cè)試廠等不同客戶的測(cè)試需求。經(jīng)過不斷的技術(shù)迭代更新，A系列全自動(dòng)探針臺(tái)已擁有同步國(guó)外的先進(jìn)技術(shù)：低噪聲、快速移動(dòng)、高產(chǎn)能、采用缺口和晶圓ID同步識(shí)別，減少了晶圓的加載時(shí)間；低重心設(shè)計(jì)，支持高針數(shù)探針卡，探針臺(tái)應(yīng)用需求持續(xù)攀升，行業(yè)發(fā)展前景較好。南昌低阻測(cè)試探針臺(tái)低溫探針臺(tái)是用來無(wú)損檢測(cè)樣品的電性能，用于半導(dǎo)體、微電子、固體物理、超導(dǎo)等研究冷域，是...

雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能?？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽(yáng)能電。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：可同時(shí)完成DC和RF測(cè)試大手柄雙驅(qū)動(dòng)，省時(shí)，省力，省心雙光路系統(tǒng)，上光路可升級(jí)加載光電流系統(tǒng)。芯片內(nèi)部線路/pad/電級(jí)的IV/CV測(cè)試l材料/器件的IV/CV性能測(cè)試及FAl芯片/面板內(nèi)部線路修改/去層（介質(zhì)絕緣層/鈍化層l可對(duì)金屬線路層激光斷線或開路進(jìn)行熔接l激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層或基底l激光**小加工精度1*1μml芯片研發(fā)流片驗(yàn)證...