低溫存儲測試主要考察產(chǎn)品在低溫環(huán)境下存儲后的性能恢復(fù)情況。把產(chǎn)品放入低溫試驗箱,設(shè)置低溫條件,如 -20℃、-40℃。產(chǎn)品在該低溫環(huán)境下存儲規(guī)定時間,如 24 小時。存儲結(jié)束后,將產(chǎn)品移至常溫環(huán)境,待溫度平衡后,***檢測產(chǎn)品各項性能。以一款戶外監(jiān)控攝像頭為例,經(jīng)低溫存儲測試后,攝像頭的電池出現(xiàn)電量顯示異常問題,進一步檢測發(fā)現(xiàn)是電池內(nèi)部電解液在低溫下黏稠度增加,離子傳導(dǎo)受阻,這提示需改進電池低溫性能或為攝像頭添加低溫加熱裝置。疲勞測試結(jié)合環(huán)境可靠性測試,控制載荷測試葉片在高低溫環(huán)境下的疲勞。東莞濕度可靠性測試檢測
鹽霧腐蝕測試主要用于評估產(chǎn)品在潮濕含鹽環(huán)境下的耐腐蝕性能,對于一些在戶外或者沿海地區(qū)使用的產(chǎn)品而言,此項測試尤為重要。聯(lián)華檢測在進行鹽霧腐蝕測試時,會使用鹽霧試驗箱,將產(chǎn)品放置其中,通過向試驗箱內(nèi)噴射鹽霧,模擬潮濕含鹽的環(huán)境。依據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境和標準要求,設(shè)定鹽霧濃度、溫度、濕度以及測試時間等參數(shù)。例如,對于汽車零部件,模擬汽車在沿海地區(qū)行駛時可能面臨的鹽霧環(huán)境,測試零部件是否會出現(xiàn)腐蝕現(xiàn)象。通過鹽霧腐蝕測試,企業(yè)能夠了解產(chǎn)品在特定環(huán)境下的耐腐蝕能力,進而改進產(chǎn)品的防護設(shè)計或者材料選擇,提高產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。金山區(qū)氣腐可靠性測試哪個好工業(yè)自動化傳輸設(shè)備經(jīng)拉伸磨損測試,確保連續(xù)運行穩(wěn)定可靠。
新能源電池 CCS 集成母排焊接拉力、剝離力測試:在新能源電池系統(tǒng)里,CCS 集成母排承擔電芯串并聯(lián)、信號采集重任,其焊接質(zhì)量關(guān)乎電池管理系統(tǒng)安全運行。聯(lián)華檢測采用拉力機對 CCS 集成母排的焊接處進行拉力、剝離力測試。針對鎳片與鋁巴焊接部位,精細控制拉力機拉伸速度與方向,施加拉力直至焊接部位出現(xiàn)變形或斷裂,記錄此時拉力數(shù)值。同時,模擬實際使用中的振動、高負載工況,重復(fù)測試。如在對某新能源汽車電池 CCS 集成母排測試時,發(fā)現(xiàn)部分焊接處拉力未達標準,在模擬振動環(huán)境下,焊接部位出現(xiàn)松動,導(dǎo)致電阻增大,影響電池性能。經(jīng)深入分析,是焊接工藝參數(shù)設(shè)置不當,致使焊接強度不足。通過此類測試,可確保母排材料及焊接處有足夠抗拉強度,為新能源電池系統(tǒng)可靠性提供保障。
汽車電子芯片高加速壽命測試:在汽車領(lǐng)域,電子芯片廣泛應(yīng)用于發(fā)動機控制單元、車載娛樂系統(tǒng)等關(guān)鍵部位。汽車行駛環(huán)境復(fù)雜,芯片需承受高溫、振動、電氣干擾等多種應(yīng)力。廣州聯(lián)華檢測針對汽車電子芯片開展高加速壽命測試(HALT),模擬比實際使用環(huán)境更嚴苛的條件。測試時,將芯片置于可精確控溫的試驗箱,以極快的速率進行高低溫循環(huán),如從 -55℃迅速升溫至 125℃,同時疊加振動激勵,振動頻率和振幅模擬汽車行駛中發(fā)動機艙等部位的振動情況。在測試過程中,運用高精度的電氣參數(shù)監(jiān)測設(shè)備,對芯片的邏輯功能、信號傳輸?shù)刃阅苓M行實時監(jiān)測。例如,某發(fā)動機控制單元芯片在經(jīng)過數(shù)百次高加速循環(huán)后,出現(xiàn)部分邏輯電路誤判的情況。經(jīng)聯(lián)華檢測深入分析,發(fā)現(xiàn)是芯片內(nèi)部焊點在熱應(yīng)力和振動的共同作用下,出現(xiàn)細微裂紋,導(dǎo)致電氣連接不穩(wěn)定?;谶@樣的測試結(jié)果,芯片制造商可優(yōu)化芯片封裝工藝,如改進焊點材料和焊接工藝,提高芯片在復(fù)雜汽車環(huán)境下的可靠性,降低汽車電子系統(tǒng)故障概率,保障行車安全。失效分析在雙測試中,用專業(yè)設(shè)備確定螺栓在不同環(huán)境下的斷裂原因。
機械產(chǎn)品鹽霧腐蝕測試:許多機械產(chǎn)品,如戶外機械、船舶設(shè)備等,易受鹽霧侵蝕,影響使用壽命與安全性。聯(lián)華檢測依據(jù)相關(guān)標準,對機械產(chǎn)品開展鹽霧腐蝕測試。將機械產(chǎn)品或其代表性部件置于鹽霧試驗箱內(nèi),向箱內(nèi)噴射一定濃度的鹽霧,模擬海洋或沿海地區(qū)潮濕含鹽環(huán)境。依據(jù)產(chǎn)品使用環(huán)境和標準要求,設(shè)定鹽霧濃度、溫度、濕度及測試時長。如對船舶甲板機械進行測試,模擬船舶在海上航行一年的鹽霧環(huán)境。測試期間,定期檢查產(chǎn)品表面腐蝕情況,用測厚儀測量金屬部件腐蝕后的厚度變化,分析腐蝕速率。經(jīng)測試,發(fā)現(xiàn)部分機械部件防護涂層出現(xiàn)起泡、脫落,金屬基體腐蝕嚴重。這表明防護涂層耐鹽霧性能差,需改進涂層材料與涂裝工藝,提高機械產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下的耐腐蝕性能,延長產(chǎn)品使用壽命。電磁兼容性測試助力雙測試,防止干擾,保障產(chǎn)品在復(fù)雜環(huán)境下穩(wěn)定運行。金山區(qū)氣腐可靠性測試哪個好
汽車動力系統(tǒng)關(guān)鍵零部件經(jīng)多測試,保障高速高負荷運轉(zhuǎn)可靠性。東莞濕度可靠性測試檢測
電子芯片高低溫存儲測試:電子芯片在不同應(yīng)用場景下,面臨多樣的溫度環(huán)境。像汽車電子芯片,冬天車輛啟動時芯片處于低溫環(huán)境,而在發(fā)動機艙高溫工作時,芯片又要承受高溫。聯(lián)華檢測開展的高低溫存儲測試,能精細模擬此類極端溫度條件。測試時,將芯片放置于可精細控溫的高低溫試驗箱內(nèi),按照芯片的使用環(huán)境要求,設(shè)置低溫如 - 40℃,高溫如 150℃,并讓芯片在相應(yīng)溫度下存儲一定時長,如 48 小時或更長。期間,運用高精度的電學參數(shù)測試設(shè)備,在測試前后對芯片的關(guān)鍵電氣參數(shù),如閾值電壓、漏電流、邏輯功能等進行精確測量。曾經(jīng)有一款手機處理器芯片,在經(jīng)過高溫 125℃存儲測試后,出現(xiàn)部分邏輯門電路功能異常的情況。經(jīng)聯(lián)華檢測專業(yè)分析,是芯片內(nèi)部的金屬互連結(jié)構(gòu)在高溫下發(fā)生了輕微的原子遷移,導(dǎo)致電路連接性能下降?;谶@樣的測試結(jié)果,芯片設(shè)計廠商可針對性地優(yōu)化芯片制造工藝,如改進金屬互連材料或調(diào)整芯片的散熱設(shè)計,從而提升芯片在不同溫度存儲環(huán)境下的可靠性,保障搭載該芯片的電子產(chǎn)品穩(wěn)定運行。東莞濕度可靠性測試檢測