軌道交通領(lǐng)域的 LED 燈具因長(zhǎng)期處于振動(dòng)、粉塵、溫度變化劇烈的環(huán)境中,極易出現(xiàn)失效問(wèn)題,上海擎奧為此提供專業(yè)的失效分析服務(wù)。公司配備的環(huán)境測(cè)試設(shè)備可精細(xì)模擬軌道交通的復(fù)雜環(huán)境,再現(xiàn) LED 燈具可能遇到的各種嚴(yán)苛條件。專業(yè)團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)失效的軌道交通 LED 燈具進(jìn)行多維拆解,運(yùn)用材料分析技術(shù)檢測(cè)燈具各部件的材質(zhì)變化,結(jié)合失效物理原理分析失效機(jī)制,如振動(dòng)導(dǎo)致的線路松動(dòng)、高溫引起的封裝膠老化等。通過(guò)系統(tǒng)的分析,明確失效的關(guān)鍵影響因素,并為軌道交通企業(yè)提供針對(duì)性的解決方案,幫助其提高 LED 燈具的可靠性和使用壽命,保障軌道交通運(yùn)營(yíng)的安全和穩(wěn)定。針對(duì)汽車電子 LED 產(chǎn)品開(kāi)展專項(xiàng)失效分析。青浦區(qū)本地LED失效分析

軌道交通領(lǐng)域的 LED 燈具因長(zhǎng)期處于振動(dòng)、粉塵、溫度變化劇烈的環(huán)境中,極易出現(xiàn)失效問(wèn)題,上海擎奧為此提供專業(yè)的失效分析服務(wù)。公司配備的環(huán)境測(cè)試設(shè)備可精細(xì)模擬軌道交通的復(fù)雜環(huán)境,再現(xiàn) LED 燈具可能遇到的各種嚴(yán)苛條件。專業(yè)團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)失效的軌道交通 LED 燈具進(jìn)行多維拆解,運(yùn)用材料分析技術(shù)檢測(cè)燈具各部件的材質(zhì)變化,結(jié)合失效物理原理分析失效機(jī)制,如振動(dòng)導(dǎo)致的線路松動(dòng)、高溫引起的封裝膠老化等。通過(guò)系統(tǒng)的分析,明確失效的關(guān)鍵影響因素,并為軌道交通企業(yè)提供針對(duì)性的解決方案,幫助其提高 LED 燈具的可靠性和使用壽命,保障軌道交通運(yùn)營(yíng)的安全穩(wěn)定。松江區(qū)制造LED失效分析功能引線鍵合不牢固,在溫度變化或振動(dòng)時(shí),引線容易脫落。

切實(shí)可行的解決方案。擎奧檢測(cè)的材料失效分析人員在 LED 封裝失效領(lǐng)域頗具話語(yǔ)權(quán)。LED 封裝過(guò)程中,膠體氣泡、引腳氧化、熒光粉分布不均等問(wèn)題都可能導(dǎo)致后期失效。團(tuán)隊(duì)通過(guò)金相切片技術(shù)觀察封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu),利用能譜儀分析引腳表面的氧化成分,結(jié)合密封性測(cè)試判斷膠體是否存在微裂紋。針對(duì)因封裝工藝缺陷導(dǎo)致的 LED 失效,他們能追溯到生產(chǎn)環(huán)節(jié)的關(guān)鍵參數(shù),幫助客戶改進(jìn)封裝流程,從源頭降低失效風(fēng)險(xiǎn)。針對(duì)芯片級(jí) LED 的失效分析,擎奧檢測(cè)配備了專項(xiàng)檢測(cè)設(shè)備和技術(shù)團(tuán)隊(duì)。芯片是 LED 的重心部件,其失效可能源于晶格缺陷、電流集中、靜電損傷等。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)探針臺(tái)對(duì)芯片進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)試,結(jié)合微光顯微鏡觀察漏電點(diǎn)位置,利用 X 射線衍射儀分析晶格結(jié)構(gòu)完整性。行家團(tuán)隊(duì)能根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)分芯片失效是屬于制造過(guò)程中的固有缺陷,還是應(yīng)用過(guò)程中的不當(dāng)操作導(dǎo)致,為客戶提供芯片選型建議或使用規(guī)范指導(dǎo)。
在軌道交通 LED 照明的失效分析中,上海擎奧的技術(shù)團(tuán)隊(duì)展現(xiàn)了強(qiáng)大的場(chǎng)景復(fù)現(xiàn)能力。地鐵車廂 LED 燈帶頻繁出現(xiàn)的光衰問(wèn)題,通過(guò)模擬車廂供電波動(dòng)的交流電源發(fā)生器,結(jié)合積分球測(cè)試系統(tǒng),連續(xù)監(jiān)測(cè) 1000 小時(shí)的光通量變化,發(fā)現(xiàn)電壓瞬時(shí)過(guò)高導(dǎo)致的芯片老化加速是關(guān)鍵。針對(duì)高鐵車頭 LED 信號(hào)燈的失效,實(shí)驗(yàn)室采用鹽霧試驗(yàn)箱進(jìn)行中性鹽霧測(cè)試(5% NaCl 溶液,溫度 35℃),72 小時(shí)后觀察到燈座金屬鍍層的腐蝕現(xiàn)象,通過(guò)能譜分析儀確定腐蝕產(chǎn)物成分,為客戶改進(jìn)鍍層工藝提供了數(shù)據(jù)支撐。這些分析直接提升了軌道交通 LED 產(chǎn)品的使用壽命。電路保護(hù)措施不完善,如無(wú)過(guò)流、過(guò)壓保護(hù),易損壞LED。

在上海浦東新區(qū)金橋開(kāi)發(fā)區(qū)的擎奧檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室里,先進(jìn)的材料分析設(shè)備正在為 LED 失效分析提供精確的支撐。針對(duì) LED 產(chǎn)品常見(jiàn)的光衰、色溫偏移等問(wèn)題,實(shí)驗(yàn)室通過(guò)掃描電子顯微鏡(SEM)觀察芯片焊點(diǎn)微觀結(jié)構(gòu),結(jié)合能譜儀(EDS)分析金屬遷移現(xiàn)象,可以快速的定位失效根源。2500 平米的檢測(cè)空間內(nèi),恒溫恒濕箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱等環(huán)境測(cè)試設(shè)備模擬 LED 在不同工況下的不同工作狀態(tài),配合光譜儀實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光參數(shù)變化,為失效機(jī)理研究提供完整數(shù)據(jù)鏈。芯片封裝材料與芯片不匹配,產(chǎn)生應(yīng)力,使芯片出現(xiàn)裂紋。LED失效分析驅(qū)動(dòng)電路
分析 LED 溫度特性與失效關(guān)聯(lián)的專業(yè)服務(wù)。青浦區(qū)本地LED失效分析
上海擎奧利用先進(jìn)的材料分析設(shè)備,對(duì) LED 失效過(guò)程中的材料變化進(jìn)行深入研究,為失效原因的判定提供科學(xué)依據(jù)。在分析過(guò)程中,團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì) LED 的芯片、封裝膠、支架、焊點(diǎn)等材料進(jìn)行成分分析、結(jié)構(gòu)分析和性能測(cè)試,檢測(cè)其在失效前后的物理和化學(xué)性質(zhì)變化,如封裝膠的老化程度、芯片的晶格缺陷、焊點(diǎn)的合金成分變化等。通過(guò)這些微觀層面的分析,能夠精確確定導(dǎo)致 LED 失效的材料因素,如材料老化、材料性能不達(dá)標(biāo)、材料之間的兼容性問(wèn)題等。基于分析結(jié)果,為客戶提供材料選型、材料處理工藝改進(jìn)等方面的建議,幫助客戶從材料源頭提升 LED 產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。青浦區(qū)本地LED失效分析