杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-25
現(xiàn)代超聲掃描顯微鏡的檢測精度已提升至微米級(jí),例如25MHz探頭可識(shí)別0.37毫米的缺陷,15MHz探頭可檢測1.0毫米以上的分層。其分辨率取決于樣品與換能器狀態(tài),理論上可達(dá)到半波長(λ/2)的極限。
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