芯片測(cè)試中發(fā)現(xiàn)“功能失效”但無(wú)法定位具體原因怎么辦？

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-05

當(dāng)遇到功能失效但難以定位具體原因時(shí)，可以采用逐步排除法、故障注入測(cè)試或邊界掃描測(cè)試等方法進(jìn)行故障定位。此外，還可以利用專業(yè)的故障分析工具和經(jīng)驗(yàn)豐富的測(cè)試工程師來(lái)協(xié)助診斷問(wèn)題。

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