芯片測試會(huì)損壞芯片嗎？

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杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-04

正常情況下，專業(yè)的測試方法不會(huì)損壞芯片，但極少數(shù)情況下，由于芯片本身存在缺陷，測試過程中可能會(huì)暴露出來導(dǎo)致失效。

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簡介：高性能半導(dǎo)體/電子測試系統(tǒng)提供商，為芯片/新能源/LED/醫(yī)療等領(lǐng)域提供測試解決方案與產(chǎn)品

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