青海晶圓Mapping Inkless平臺

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報表工具，時間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時自動觸發(fā)設(shè)備維護工單，實現(xiàn)預(yù)防性維護。青海晶圓Mapping Inkless平臺

面對半導(dǎo)體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實現(xiàn)了對制造過程的實時洞察與動態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設(shè)備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時段良率表現(xiàn)的即時追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時干預(yù)以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標準化報告，還可導(dǎo)出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設(shè)備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。半導(dǎo)體Mapping Inkless技術(shù)Mapping Over Ink處理的異常Die剔除決策具備完整數(shù)據(jù)留痕，確保處理過程透明可審計。

為提升晶圓測試（CP測試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動化，有效提升品質(zhì)與效率。

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計瑕疵時，或當(dāng)光刻機在步進重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風(fēng)險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構(gòu)成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風(fēng)險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險，為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。 DPAT模塊動態(tài)調(diào)整閾值以適應(yīng)批次差異，分場景優(yōu)化測試限設(shè)定。

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報廢。YMS系統(tǒng)通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。標準化數(shù)據(jù)庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常點。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，可區(qū)分是設(shè)計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點，實現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng)，助力芯片制造企業(yè)構(gòu)建自主可控的質(zhì)量管理能力。AECQ合規(guī)性內(nèi)嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中，確保車規(guī)級標準嚴格執(zhí)行。吉林晶圓PAT

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)持續(xù)優(yōu)化以適配先進制程需求，保持技術(shù)優(yōu)勢。青海晶圓Mapping Inkless平臺

良率管理的目標是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗證，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關(guān)鍵指標設(shè)置動態(tài)防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種從數(shù)據(jù)到行動的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)推動YMS成為行業(yè)提質(zhì)增效的基礎(chǔ)設(shè)施。青海晶圓Mapping Inkless平臺

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團結(jié)一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！