不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案，可根據(jù)客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數(shù)據(jù)結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規(guī)則；針對客戶審計需求，可開發(fā)合規(guī)性報告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范，上層應用則靈活適配業(yè)務流程，確保數(shù)據(jù)質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統(tǒng)真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發(fā)視為價值共創(chuàng)過程，以技術...

當封測廠面臨多設備、多格式測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理的困境時，YMS系統(tǒng)通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數(shù)據(jù)，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預成本。標準化數(shù)據(jù)庫實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，支持從時間趨勢到晶圓區(qū)域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節(jié)點，強化過程質量防線。靈活報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協(xié)同效率。系統(tǒng)報價覆蓋軟件授權、必要定...

不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案，可根據(jù)客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數(shù)據(jù)結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規(guī)則；針對客戶審計需求，可開發(fā)合規(guī)性報告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范，上層應用則靈活適配業(yè)務流程，確保數(shù)據(jù)質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統(tǒng)真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發(fā)視為價值共創(chuàng)過程，以技術...

面對國產(chǎn)半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實現(xiàn)質量閉環(huán)的關鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù)，通過內(nèi)置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標準化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日...

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。 上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商，致力于為國內(nèi)外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，...

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導致整批產(chǎn)品報廢。YMS系統(tǒng)通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數(shù)據(jù)，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。標準化數(shù)據(jù)庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝異常點。結合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，可區(qū)分是設計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節(jié)點，實現(xiàn)預防性質量干預。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并...

不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案，可根據(jù)客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數(shù)據(jù)結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規(guī)則；針對客戶審計需求，可開發(fā)合規(guī)性報告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范，上層應用則靈活適配業(yè)務流程，確保數(shù)據(jù)質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統(tǒng)真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發(fā)視為價值共創(chuàng)過程，以技術...

面對半導體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實現(xiàn)了對制造過程的實時洞察與動態(tài)調控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結構化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時段良率表現(xiàn)的即時追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時干預以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標準化報告，還可導出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。Mapping Over Ink處理減少人工復核負擔，提升質量控制效率。吉林可視化M...

面對國產(chǎn)半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實現(xiàn)質量閉環(huán)的關鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù)，通過內(nèi)置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標準化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日...

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業(yè)的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這...

在半導體制造中，由于Fab制程的物理與化學特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個關鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關鍵步驟。 上海偉諾信息科技有限公司Mappin...

在高頻測試場景下，重復提交或設備通信中斷常導致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計算準確性。YMS系統(tǒng)通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關鍵字段自動掃描數(shù)據(jù)集，識別完全重復或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時檢測關鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點并提示修正。該機制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過濾協(xié)同工作，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無偏。例如，當某批次CP測試因機臺故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動識別并保留有效片段，避免重復計數(shù)拉低整體良率。這種自動化質量控制大幅降低人工核查負擔，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關鍵能力之一，持續(xù)強化其在復雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。...

當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費數(shù)小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統(tǒng)通過自動解析引擎識別各類數(shù)據(jù)結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標準化數(shù)據(jù)庫，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優(yōu)化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現(xiàn)高效、可靠的良率管理。UPLY處理針對特定層間關聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單...

在評估良率管理系統(tǒng)投入時，企業(yè)關注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權、必要定制、技術培訓及持續(xù)運維支持，確保部署后穩(wěn)定運行與功能演進。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結構避免隱性收費，使預算規(guī)劃更可控。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導出功能，直接支撐質量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦...

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。 上海偉諾信息科技有限公司在Mapp...

在半導體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規(guī)且至關重要的質量管控手段。該技術的價值在于運用統(tǒng)計方法，識別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進質量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規(guī)級認證標準，不僅提供標準PAT功能，更針對高可靠性應用的嚴苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數(shù)進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提...

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。 上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商，致力于為國內(nèi)外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，...

面對半導體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實現(xiàn)了對制造過程的實時洞察與動態(tài)調控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結構化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時段良率表現(xiàn)的即時追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時干預以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標準化報告，還可導出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。Mapping Over Ink處理推動數(shù)據(jù)驅動決策，取代經(jīng)驗式質量判斷?？梢暬疓D...

在智能制造轉型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結果，自動完成結構化清洗與整合，消除信息孤島。標準化數(shù)據(jù)庫支持動態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識別某機臺連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設備校準預警。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預—反饋”的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。...

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設備，實時匯聚原始測試結果并完成結構化清洗，消除人工干預帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗驅動轉向數(shù)據(jù)驅動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造...

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識別導致良率下降的工藝或設計問題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報，便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進。這種精細化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競爭中保持質量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。多輪重測數(shù)據(jù)動態(tài)更新Mapping...

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎上，系統(tǒng)構建標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調用。分析層面，方案強調時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點，實現(xiàn)預防性質量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費...

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。 上海偉諾信息科技有限公司在Mapp...

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項目調用和對比。YMS通過構建標準化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設備的異構數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結構清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設計、工藝與質量團隊可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗，使YMS成為企業(yè)構建數(shù)據(jù)驅動...

在封測工廠的日常運營中，良率波動往往源于測試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時識別。YMS系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數(shù)據(jù)，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常數(shù)據(jù)過濾，確保后續(xù)分析基于準確、完整的數(shù)據(jù)基礎。通過標準化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與卡控機制，進一步強化了質量防線。靈活的報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上...

良率異常若依賴人工逐項排查，常需跨多個系統(tǒng)比對數(shù)據(jù)，耗時且易遺漏關鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結果，構建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當某批次FT良率下降時，工程師可快速調取對應CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時內(nèi)，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應質量問題的關鍵工具。Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程...

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。上海偉諾信息科技DPAT功能，通過結合測試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Ma...

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎上，系統(tǒng)構建標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調用。分析層面，方案強調時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點，實現(xiàn)預防性質量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費...

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質量干預從事后追溯轉向事中預警。結合靈活報表工具，時間維度分析結果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。Mapping Ove...

在半導體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規(guī)且至關重要的質量管控手段。該技術的價值在于運用統(tǒng)計方法，識別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進質量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規(guī)級認證標準，不僅提供標準PAT功能，更針對高可靠性應用的嚴苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數(shù)進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提...