云南晶圓Mapping Inkless服務(wù)

Mapping Over Ink是一套在晶圓測(cè)試（CP）后，對(duì)電性測(cè)試圖譜進(jìn)行智能分析、處理，并直接驅(qū)動(dòng)探針臺(tái)對(duì)特定芯片進(jìn)行噴墨打點(diǎn)的自動(dòng)化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動(dòng)——將不良品標(biāo)記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點(diǎn)是預(yù)見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商，致力于為國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與晶圓測(cè)試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺(tái)集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，旨在通過多重維度的智能篩選，構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線，有效地提升用戶的晶圓測(cè)試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，便于客戶驗(yàn)證和審計(jì)分析結(jié)果。云南晶圓Mapping Inkless服務(wù)

在晶圓測(cè)試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測(cè)試圖譜）作為記錄每一顆芯片測(cè)試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時(shí)有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會(huì)導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測(cè)試結(jié)果無法被正確解析，更會(huì)中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對(duì)整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對(duì)這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測(cè)試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺(tái)可直接識(shí)別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測(cè)試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測(cè)試帶來的成本與時(shí)間損失，更能構(gòu)建起一條從測(cè)試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動(dòng)化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 河南半導(dǎo)體MappingOverInk處理解決方案Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時(shí)自動(dòng)觸發(fā)設(shè)備維護(hù)工單，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性維護(hù)。

國(guó)產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價(jià)值在于將碎片化測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設(shè)備，處理十余種格式原始數(shù)據(jù)，確保從晶圓到芯片級(jí)的數(shù)據(jù)鏈完整可靠。系統(tǒng)不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時(shí)間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對(duì)準(zhǔn)偏差或刻蝕不均所致。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異?！钡健袄斫飧颉钡哪芰?，推動(dòng)質(zhì)量改進(jìn)從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的深入理解，推動(dòng)YMS成為國(guó)產(chǎn)替代的關(guān)鍵支撐。

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。 上海偉諾信息科技ZPAT功能，通過堆疊Mapping及不同算法幫助用戶剔除潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。

面對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，車間良率管理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)制造過程的實(shí)時(shí)洞察與動(dòng)態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動(dòng)匯聚來自各類測(cè)試設(shè)備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫(kù)，支撐對(duì)各工序、各時(shí)段良率表現(xiàn)的即時(shí)追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識(shí)別產(chǎn)線瓶頸、異常波動(dòng)或區(qū)域性缺陷，及時(shí)干預(yù)以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告，還可導(dǎo)出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場(chǎng)景。這種數(shù)據(jù)透明化機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設(shè)備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)芯片。廣東半導(dǎo)體PAT軟件

Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)判定，確保車規(guī)級(jí)芯片可靠性。云南晶圓Mapping Inkless服務(wù)

分散在不同Excel表格或本地?cái)?shù)據(jù)庫(kù)中的測(cè)試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對(duì)比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號(hào)、測(cè)試階段、時(shí)間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲(chǔ)不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析、SYL/SBL卡控等高級(jí)功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時(shí)，設(shè)計(jì)、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)文化的基礎(chǔ)設(shè)施。云南晶圓Mapping Inkless服務(wù)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針，員工精誠(chéng)努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！