良率異常若依賴人工逐項(xiàng)排查,常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對(duì)數(shù)據(jù),耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動(dòng)匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺(tái)的測試結(jié)果,構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫,并以熱力圖、趨勢(shì)曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動(dòng)。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí),工程師可快速調(diào)取對(duì)應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖,判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析,使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi),大幅減少試錯(cuò)成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力,讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常,指導(dǎo)工藝改進(jìn)方向。廣東GDBC系統(tǒng)

每周一上午趕制良率周報(bào)曾是質(zhì)量團(tuán)隊(duì)的固定負(fù)擔(dān):手動(dòng)匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式,耗時(shí)且易出錯(cuò)。YMS內(nèi)置報(bào)表模板可按日、周、月自動(dòng)生成結(jié)構(gòu)化報(bào)告,內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對(duì)比、時(shí)間趨勢(shì)等關(guān)鍵指標(biāo),并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營會(huì)議,客戶審計(jì)接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔,工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動(dòng)化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑,避免信息互相影響。報(bào)表制作時(shí)間從數(shù)小時(shí)降至幾分鐘,釋放人力資源投入更高價(jià)值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報(bào)表功能,推動(dòng)企業(yè)決策從“經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)”轉(zhuǎn)型。陜西自動(dòng)化Mapping Inkless服務(wù)商Mapping Over Ink處理減少人工復(fù)核負(fù)擔(dān),提升質(zhì)量控制效率。

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù),通過在晶圓測試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片,從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例,通過特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。
為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn),上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力,使其能夠通過一套高度可配置的流程,精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片,從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。
在晶圓制造過程中,制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一,其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機(jī)分布,而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式,例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而,一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于,在這些完全失效的Die周圍,往往存在一個(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure,其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷,在常規(guī)的CP測試中,它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存,但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下,早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除,避免其流出至客戶端成為可靠性隱患,常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對(duì)。必須借助特定的空間識(shí)別算法,對(duì)晶圓測試圖譜進(jìn)行深度處理。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài),智能地推斷出工藝影響的波及范圍,并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 多輪重測數(shù)據(jù)動(dòng)態(tài)更新Mapping Over Ink處理的Ink決策,確保篩選結(jié)果實(shí)時(shí)優(yōu)化。
當(dāng)封測廠同時(shí)部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí),每臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導(dǎo)致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)議解析引擎,可自動(dòng)識(shí)別各類測試平臺(tái)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與接口協(xié)議,無需定制開發(fā)即可完成數(shù)據(jù)采集與格式轉(zhuǎn)換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復(fù)性檢測、缺失字段識(shí)別和異常值過濾,確保入庫數(shù)據(jù)準(zhǔn)確完整。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對(duì)所有來源數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類存儲(chǔ),為后續(xù)良率分析提供一致基礎(chǔ)。這種“即插即用”的兼容能力,明顯降低多設(shè)備環(huán)境下的集成復(fù)雜度與維護(hù)成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際設(shè)備生態(tài),持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性。上海偉諾信息科技mapping去邊功能,采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)芯片。廣東GDBC系統(tǒng)
工藝窗口優(yōu)化得益于Mapping Over Ink處理對(duì)失效模式的精確識(shí)別,提升制造良率水平。廣東GDBC系統(tǒng)
為提升晶圓測試(CP測試)的質(zhì)量與可靠性,行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測試,擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此,越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中,引入外觀檢測設(shè)備(AOI,AutomatedOpticalInspection),對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測,以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于,它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”,但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn),是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測,可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案,解決兩大關(guān)鍵問題:一是通過數(shù)據(jù)融合,篩除外觀與電性的全部不良品,生成高可靠性的合一Mapping;二是具備優(yōu)異的兼容性,可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)(如TSK、TEL、UF3000等)可識(shí)別的格式,實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化,有效提升品質(zhì)與效率。廣東GDBC系統(tǒng)
上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡,一群有夢(mèng)想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù),信奉著“爭取每一個(gè)客戶不容易,失去每一個(gè)用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團(tuán)結(jié)一致,共同進(jìn)退,**協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn),才能繼續(xù)上路,讓我們一起點(diǎn)燃新的希望,放飛新的夢(mèng)想!