浙江半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)

分散在不同Excel表格或本地?cái)?shù)據(jù)庫(kù)中的測(cè)試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對(duì)比。YMS通過(guò)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，將來(lái)自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號(hào)、測(cè)試階段、時(shí)間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過(guò)多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲(chǔ)不僅提升查詢(xún)效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析、SYL/SBL卡控等高級(jí)功能提供一致數(shù)據(jù)源。跨部門(mén)協(xié)作時(shí)，設(shè)計(jì)、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開(kāi)展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)文化的基礎(chǔ)設(shè)施。SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測(cè)試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。浙江半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)

芯片制造對(duì)良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測(cè)試平臺(tái)輸出的多格式文件，自動(dòng)完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過(guò)關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識(shí)別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計(jì)問(wèn)題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級(jí)缺陷分布與趨勢(shì)變化。靈活的報(bào)表引擎支持按周期自動(dòng)生成分析簡(jiǎn)報(bào)，便于跨部門(mén)協(xié)同與持續(xù)改進(jìn)。這種精細(xì)化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競(jìng)爭(zhēng)中保持質(zhì)量?jī)?yōu)勢(shì)。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專(zhuān)業(yè)軟件能力賦能中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的重要工具。廣西MappingOverInk處理服務(wù)PAT模塊與GDBC算法協(xié)同區(qū)分隨機(jī)噪聲與系統(tǒng)性缺陷，提升篩選精確度。

良率波動(dòng)若不能及時(shí)干預(yù)，可能造成數(shù)百萬(wàn)級(jí)的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程，即時(shí)采集并清洗來(lái)自多種測(cè)試平臺(tái)的異構(gòu)數(shù)據(jù)，構(gòu)建高可信度分析基礎(chǔ)。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢(shì)到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關(guān)聯(lián)，并結(jié)合FT參數(shù)驗(yàn)證是否為打線偏移導(dǎo)致。SYL/SBL卡控機(jī)制設(shè)置動(dòng)態(tài)閾值，在指標(biāo)異常時(shí)自動(dòng)預(yù)警，實(shí)現(xiàn)前置質(zhì)量管控。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速?zèng)Q策。這種“實(shí)時(shí)感知—智能歸因—主動(dòng)干預(yù)”的能力，將良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)升級(jí)為數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實(shí)用性。

面對(duì)工廠級(jí)良率管理的復(fù)雜性，單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來(lái)自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)自動(dòng)化清洗與異常過(guò)濾，構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖，從時(shí)間維度追蹤長(zhǎng)期趨勢(shì)，或從空間維度比對(duì)不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異，精確識(shí)別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對(duì)WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制，確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能，則滿足從車(chē)間班組長(zhǎng)到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求，持續(xù)完善YMS系統(tǒng)，推動(dòng)工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量躍升。PAT模塊與GDBC算法協(xié)同減少誤剔除良品風(fēng)險(xiǎn)，平衡質(zhì)量與成本。

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動(dòng)，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險(xiǎn)。其中，一個(gè)尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計(jì)瑕疵時(shí)，或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過(guò)程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均）時(shí)。這些因Reticle問(wèn)題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實(shí)質(zhì)上構(gòu)成了一個(gè)高風(fēng)險(xiǎn)的“潛伏失效群體”。若不能在測(cè)試階段被精確識(shí)別并剔除，將直接流向客戶端，對(duì)產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識(shí)別并處理這類(lèi)與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個(gè)Shot Mapping Ink方案，可以將整個(gè)Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個(gè)Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過(guò)Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個(gè)失效芯片”前移至“攔截整個(gè)失效風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域”。這尤其適用于對(duì)可靠性要求極嚴(yán)苛的車(chē)規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問(wèn)題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險(xiǎn)，為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對(duì)系統(tǒng)性缺陷的堅(jiān)固防線。 Mapping Over Ink處理通過(guò)失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導(dǎo)工藝改進(jìn)方向。云南半導(dǎo)體PAT系統(tǒng)定制

上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測(cè)試后處理的芯片做降檔處理，降低測(cè)試Cost。浙江半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)

當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來(lái)自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費(fèi)數(shù)小時(shí)核對(duì)字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)解析引擎識(shí)別各類(lèi)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，檢測(cè)重復(fù)性與缺失性，并過(guò)濾異常值，將清洗過(guò)程壓縮至分鐘級(jí)。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識(shí)別與工藝優(yōu)化建議。這種自動(dòng)化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來(lái)的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力，支撐客戶實(shí)現(xiàn)高效、可靠的良率管理。浙江半導(dǎo)體GDBC系統(tǒng)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念，先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn)，在發(fā)展過(guò)程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià)，這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果，這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力，也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳３謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無(wú)前的進(jìn)取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來(lái)，創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)！