海南可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-12-03

晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備,實(shí)時(shí)匯聚原始測(cè)試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗,消除人工干預(yù)帶來(lái)的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖,清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異,輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問(wèn)題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí),可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移,實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出,滿(mǎn)足從產(chǎn)線(xiàn)到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力,使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的理解,將YMS打造為晶圓廠(chǎng)提質(zhì)增效的有效工具。Mapping Inkless實(shí)現(xiàn)無(wú)物理噴墨的邏輯剔除,避免傳統(tǒng)標(biāo)記對(duì)先進(jìn)封裝的干擾。海南可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格

海南可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格,MappingOverInk處理

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見(jiàn)的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后,依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對(duì)缺陷進(jìn)行分類(lèi),生成色彩漸變的熱力圖,直觀呈現(xiàn)中心、過(guò)渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶(hù)可對(duì)比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn),識(shí)別是否為光刻對(duì)焦偏差或刻蝕均勻性問(wèn)題所致。疊加時(shí)間維度后,還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析,使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”,明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求,將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。海南可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格上海偉諾信息科技DPAT功能,通過(guò)結(jié)合測(cè)試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。

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ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù),通過(guò)在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片,從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過(guò)程中需要通過(guò)疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例,通過(guò)特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶(hù)應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn),上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶(hù)高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力,使其能夠通過(guò)一套高度可配置的流程,精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片,從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的智能質(zhì)量防線(xiàn)。

半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高,需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù),完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ),確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢(shì)與區(qū)域?qū)Ρ确治?,還能通過(guò)WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn),輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能,為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù);靈活報(bào)表引擎則支持按項(xiàng)目、產(chǎn)品線(xiàn)或客戶(hù)維度生成分析簡(jiǎn)報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,適配不同匯報(bào)場(chǎng)景。這種深度集成的能力,使良率管理從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則,持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。工藝工程師基于GDBC聚類(lèi)結(jié)果優(yōu)化制程參數(shù),提升制造良率水平。

良率異常若依賴(lài)人工逐項(xiàng)排查,常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對(duì)數(shù)據(jù),耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線(xiàn)索。YMS自動(dòng)匯聚來(lái)自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果,構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫(kù),并以熱力圖、趨勢(shì)曲線(xiàn)等形式直觀展示缺陷分布與良率波動(dòng)。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí),工程師可快速調(diào)取對(duì)應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖,判斷是否為特定象限的打線(xiàn)偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析,使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi),大幅減少試錯(cuò)成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力,讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問(wèn)題的關(guān)鍵工具。上海偉諾信息科技SPAT功能,通過(guò)結(jié)合測(cè)試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。江蘇半導(dǎo)體GDBC服務(wù)

工藝窗口優(yōu)化得益于Mapping Over Ink處理對(duì)失效模式的精確識(shí)別,提升制造良率水平。海南可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格

當(dāng)測(cè)試工程師面對(duì)來(lái)自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時(shí),傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費(fèi)數(shù)小時(shí)核對(duì)字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)解析引擎識(shí)別各類(lèi)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),檢測(cè)重復(fù)性與缺失性,并過(guò)濾異常值,將清洗過(guò)程壓縮至分鐘級(jí)。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù),確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理,而是聚焦于缺陷模式識(shí)別與工藝優(yōu)化建議。這種自動(dòng)化處理不僅提升效率,更消除人為疏漏帶來(lái)的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力,支撐客戶(hù)實(shí)現(xiàn)高效、可靠的良率管理。海南可視化PAT系統(tǒng)價(jià)格

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念,先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn),在發(fā)展過(guò)程中不斷完善自己,要求自己,不斷創(chuàng)新,時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**,在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià),這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果,這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力,也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳3謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無(wú)前的進(jìn)取創(chuàng)新精神,努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度,在全體員工共同努力之下,全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來(lái),創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品,我們將以更好的狀態(tài),更認(rèn)真的態(tài)度,更飽滿(mǎn)的精力去創(chuàng)造,去拼搏,去努力,讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)!