江蘇自動化Mapping Inkless平臺

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實(shí)生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面，方案強(qiáng)調(diào)時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量管理。同時，報(bào)表引擎支持按需生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費(fèi)習(xí)慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，將YMS方案打造為兼具實(shí)用性與擴(kuò)展性的國產(chǎn)選擇。Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無縫傳遞。江蘇自動化Mapping Inkless平臺

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。浙江半導(dǎo)體GDBC服務(wù)Mapping Inkless實(shí)現(xiàn)無物理噴墨的邏輯剔除，避免傳統(tǒng)標(biāo)記對先進(jìn)封裝的干擾。

因測試數(shù)據(jù)錯誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調(diào)整，造成材料與時間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗(yàn)，自動剔除異常記錄，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時，系統(tǒng)會標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì)，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證，進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制，將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動接入各類Tester平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持按時間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動計(jì)算與卡控，為芯片級質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其YMS系統(tǒng)正成為國產(chǎn)芯片企業(yè)提升產(chǎn)品競爭力的關(guān)鍵助力。Mapping Over Ink處理的異常Die剔除決策具備完整數(shù)據(jù)留痕，確保處理過程透明可審計(jì)。

半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅(jiān)固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來識別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險(xiǎn)芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與CP測試廠對提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。 DPAT模塊動態(tài)調(diào)整閾值以適應(yīng)批次差異，分場景優(yōu)化測試限設(shè)定。江蘇自動化Mapping Inkless平臺

Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對齊，確保測試結(jié)果可追溯。江蘇自動化Mapping Inkless平臺

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。江蘇自動化Mapping Inkless平臺

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！