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為提升晶圓測(cè)試（CP測(cè)試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測(cè)設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè)，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測(cè)，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)（如TSK、TEL、UF3000等）可識(shí)別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化，有效提升品質(zhì)與效率。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)芯片。新疆GDBC平臺(tái)

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。中國(guó)香港半導(dǎo)體PAT工具SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測(cè)試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。

因測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測(cè)或錯(cuò)誤工藝調(diào)整，造成材料與時(shí)間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗(yàn)，自動(dòng)剔除異常記錄，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時(shí)，系統(tǒng)會(huì)標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì)，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證，進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制，將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。

車間管理者需要的是能即時(shí)反映產(chǎn)線狀態(tài)的良率監(jiān)控工具，而非復(fù)雜的數(shù)據(jù)平臺(tái)。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場(chǎng)景，自動(dòng)匯聚來自現(xiàn)場(chǎng)Tester設(shè)備的測(cè)試結(jié)果，并實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)清洗與異常過濾，確保看板展示的信息準(zhǔn)確有效。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)支持按班次、機(jī)臺(tái)或產(chǎn)品型號(hào)動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長(zhǎng)在交接班前快速識(shí)別異常批次。當(dāng)某區(qū)域連續(xù)出現(xiàn)低良率時(shí)，系統(tǒng)可聯(lián)動(dòng)CP與FT數(shù)據(jù)判斷是否為共性工藝問題，并觸發(fā)預(yù)警。日?qǐng)?bào)、周報(bào)自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，減少手工填報(bào)負(fù)擔(dān)。這種“輕部署、快響應(yīng)、強(qiáng)落地”的設(shè)計(jì)思路，使良率管理真正融入日常生產(chǎn)節(jié)奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對(duì)封測(cè)工廠運(yùn)作邏輯的深刻洞察，持續(xù)優(yōu)化YMS的車間適用性。Mapping Over Ink處理強(qiáng)化封測(cè)環(huán)節(jié)質(zhì)量防線，攔截潛在失效風(fēng)險(xiǎn)Die。

在晶圓測(cè)試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測(cè)試圖譜）作為記錄每一顆芯片測(cè)試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時(shí)有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會(huì)導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測(cè)試結(jié)果無法被正確解析，更會(huì)中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對(duì)整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對(duì)這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測(cè)試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺(tái)可直接識(shí)別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測(cè)試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測(cè)試帶來的成本與時(shí)間損失，更能構(gòu)建起一條從測(cè)試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動(dòng)化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 Mapping Over Ink數(shù)據(jù)處理流程全程自動(dòng)化運(yùn)行，大幅減少人工復(fù)核的人為干預(yù)。四川PAT服務(wù)

Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，降低客戶投訴率。新疆GDBC平臺(tái)

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對(duì)晶圓測(cè)試（CP）階段生成的Mapping圖進(jìn)行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項(xiàng)常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價(jià)值在于運(yùn)用統(tǒng)計(jì)方法，識(shí)別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進(jìn)質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴(yán)格遵循AEC-Q100等車規(guī)級(jí)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，不僅提供標(biāo)準(zhǔn)PAT功能，更針對(duì)高可靠性應(yīng)用的嚴(yán)苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測(cè)試的缺陷檢出率，將早期失效風(fēng)險(xiǎn)遏制在封裝之前。這直接帶來了測(cè)試質(zhì)量的飛躍與測(cè)試成本的優(yōu)化，助力客戶輕松滿足車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品對(duì)質(zhì)量與可靠性的不懈追求。新疆GDBC平臺(tái)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念，先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn)，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià)，這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果，這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力，也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳３謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無前的進(jìn)取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認(rèn)真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)！