高性能高阻測試系統(tǒng)定制

高同測能力加速智能駕駛芯片量產(chǎn)進(jìn)程。智能駕駛芯片往往需要大規(guī)模部署于整車廠供應(yīng)鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內(nèi)同時驗證數(shù)百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規(guī)級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關(guān)重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產(chǎn)模式無縫切換，便于在研發(fā)驗證與大規(guī)模生產(chǎn)之間靈活調(diào)配資源，確保智能駕駛芯片在嚴(yán)格的時間窗口內(nèi)完成認(rèn)證與交付。國磊GT600高密度集成設(shè)計降低系統(tǒng)體積，適配探針臺有限空間下的模擬晶圓測試（CP）應(yīng)用。高性能高阻測試系統(tǒng)定制

推動測試設(shè)備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進(jìn)本土供應(yīng)鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進(jìn)。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構(gòu)建完整的國產(chǎn)半導(dǎo)體測試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應(yīng)鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術(shù)工具，更是國家半導(dǎo)體供應(yīng)鏈安全體系中的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它通過實現(xiàn)**測試設(shè)備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進(jìn)上下游協(xié)同，構(gòu)筑起一道抵御外部風(fēng)險的“技術(shù)護(hù)城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點。湘潭PCB測試系統(tǒng)精選廠家每通道測試時間＜15ms，256通道全測不超過60秒，高效節(jié)能。

    高通道密度（512~2048數(shù)字通道）——適配復(fù)雜AISoC引腳規(guī)模，現(xiàn)代AI芯片引腳數(shù)常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統(tǒng)測試設(shè)備通道不足。支持**多2048個數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復(fù)用導(dǎo)致的測試盲區(qū)。滿足寒武紀(jì)、壁仞、華為昇騰等國產(chǎn)AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進(jìn)入數(shù)據(jù)中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現(xiàn)真實AI負(fù)載場景回放，AI推理/訓(xùn)練涉及復(fù)雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負(fù)載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應(yīng)用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產(chǎn)品上市周期。

AI芯片市場競爭激烈，測試成本直接影響產(chǎn)品定價與市場滲透率。GT600支持高達(dá)512 Sites的并行測試能力，意味著單次測試可同時驗證數(shù)百顆芯片，將單位測試時間壓縮至傳統(tǒng)設(shè)備的1/10以下。結(jié)合其高穩(wěn)定性與自動化軟件平臺，整體測試成本可降低70%以上。這一優(yōu)勢對年出貨量達(dá)百萬級的邊緣AI芯片、智能攝像頭主控、機(jī)器人控制器等產(chǎn)品尤為關(guān)鍵。杭州國磊通過GT600構(gòu)建的“超級測試流水線”，不僅提升了國產(chǎn)芯片的量產(chǎn)效率，更增強(qiáng)了中國AI硬件在全球市場的價格競爭力，真正實現(xiàn)“測得起、賣得快、走得遠(yuǎn)”。測試電壓范圍1V至3000V可調(diào)，滿足各種嚴(yán)苛的測試條件。

杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關(guān)鍵角色，其應(yīng)用貫穿從研發(fā)驗證到量產(chǎn)的全過程，精細(xì)滿足AEC-Q100等嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標(biāo)。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁?，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內(nèi)“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關(guān)鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續(xù)運行1000小時以上，驗證其長期穩(wěn)定性。其浮動SMU電源板卡能精細(xì)模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負(fù)載突變下的響應(yīng)能力，防止“掉電重啟”。國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺聯(lián)動，構(gòu)建高精度模擬參數(shù)測試系統(tǒng)。高性能高阻測試系統(tǒng)定制

支持定制化線纜長度，適應(yīng)各種測試環(huán)境需求。高性能高阻測試系統(tǒng)定制

AISoC的NPU模塊不**需要功能驗證，更需精確的參數(shù)測試與功耗評估。國磊GT600測試機(jī)配備每通道PPMU，可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流（IDDQ）測量，**識別AI芯片在待機(jī)、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持多電源域**供電與電流監(jiān)測，用于驗證DVFS（動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)）和電源門控（PowerGating）策略的有效性。此外，國磊GT600測試機(jī)的GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量NPU喚醒延遲、中斷響應(yīng)時間等關(guān)鍵時序參數(shù)，確保AI任務(wù)的實時性與響應(yīng)速度。高性能高阻測試系統(tǒng)定制