長(zhǎng)沙CAF測(cè)試系統(tǒng)精選廠家

    高通道密度（512~2048數(shù)字通道）——適配復(fù)雜AISoC引腳規(guī)模，現(xiàn)代AI芯片引腳數(shù)常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備通道不足。支持**多2048個(gè)數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測(cè)試，避免分時(shí)復(fù)用導(dǎo)致的測(cè)試盲區(qū)。滿足寒武紀(jì)、壁仞、華為昇騰等國(guó)產(chǎn)AI芯片的高集成度測(cè)試需求，助力其快速進(jìn)入數(shù)據(jù)中心與邊緣計(jì)算市場(chǎng)。超大向量深度（**高128M/通道）——實(shí)現(xiàn)真實(shí)AI負(fù)載場(chǎng)景回放，AI推理/訓(xùn)練涉及復(fù)雜算法流（如Transformer、CNN），需長(zhǎng)時(shí)間、高覆蓋率的功能驗(yàn)證。128M向量存儲(chǔ)深度支持完整運(yùn)行真實(shí)AI工作負(fù)載測(cè)試向量，捕獲邊界條件下的功能異?；蚬姆逯?。不僅驗(yàn)證邏輯功能，更能模擬實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景，提升芯片可靠性，加速客戶產(chǎn)品上市周期。 國(guó)磊GT600憑高精度參數(shù)測(cè)量、多域電源控制與可編程軟件平臺(tái)，支持從90nm到7nm主流工藝節(jié)點(diǎn)電源門控測(cè)試。長(zhǎng)沙CAF測(cè)試系統(tǒng)精選廠家

現(xiàn)代AI芯片集成度極高，動(dòng)輒擁有上千引腳，傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備因通道數(shù)量不足，往往需分時(shí)復(fù)用或多輪測(cè)試，不僅效率低下，還可能遺漏關(guān)鍵時(shí)序問題。杭州國(guó)磊GT600比較高支持2048個(gè)數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測(cè)試，確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內(nèi)存接口等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的功能完整性與時(shí)序一致性。這一能力對(duì)寒武紀(jì)、壁仞、燧原等國(guó)產(chǎn)AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓(xùn)練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗(yàn)證真實(shí)工作負(fù)載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產(chǎn)的周期，助力國(guó)產(chǎn)AI算力快速落地?cái)?shù)據(jù)中心與邊緣場(chǎng)景。國(guó)產(chǎn)GEN3測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器板卡，THD達(dá)-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測(cè)試。

國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU，可精確測(cè)量低功耗狀態(tài)切換延遲與喚醒時(shí)間，確保實(shí)時(shí)響應(yīng)性能。此外，GT600支持20/24bitAWG與Digitizer，可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試（如SNR、THD）。其32/64/128M向量存儲(chǔ)深度支持復(fù)雜低功耗狀態(tài)機(jī)的序列測(cè)試，而512Sites高并行測(cè)試能力則**降低單位測(cè)試成本，滿足物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場(chǎng)景的需求。綜上所述，現(xiàn)代工藝節(jié)點(diǎn)與充足資金確實(shí)使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例，但其設(shè)計(jì)復(fù)雜度的提升也對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了更高要求。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借其高精度模擬測(cè)量能力、靈活的混合信號(hào)支持、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺(tái)，不**能夠驗(yàn)證低功耗SoC的功能正確性，更能深入評(píng)估其在先進(jìn)工藝下的功耗行為與可靠性，成為支撐低功耗SoC從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵測(cè)試基礎(chǔ)設(shè)施。

    杭州國(guó)磊（Guolei）的GT600SoC測(cè)試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測(cè)試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，杭州國(guó)磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測(cè)試需求目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測(cè)試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可以進(jìn)行低功耗專項(xiàng)測(cè)試流程DVFS驗(yàn)證即自動(dòng)掃描電壓與頻率組合，評(píng)估能效比。

對(duì)于時(shí)間測(cè)量要求極高的場(chǎng)景（如ADAS傳感器信號(hào)），杭州國(guó)磊GT600可選配高精度TMU（時(shí)間測(cè)量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號(hào)延遲與抖動(dòng)，確保通信實(shí)時(shí)性。 再次，GT600支持混合信號(hào)測(cè)試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國(guó)磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號(hào)，測(cè)試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗(yàn)證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國(guó)磊GT600的512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產(chǎn)效率，降低了單顆測(cè)試成本，助力國(guó)產(chǎn)車規(guī)芯片快速上車。GM8800導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)，**檢測(cè)電路絕緣劣化，支持高達(dá)256通道并行測(cè)試。國(guó)產(chǎn)SIR測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)

選擇GM8800，就是選擇了一款多功能的測(cè)試平臺(tái)。長(zhǎng)沙CAF測(cè)試系統(tǒng)精選廠家

盡管“杭州六小龍”（游戲科學(xué)、深度求索、宇樹科技等）以應(yīng)用層創(chuàng)新聞名，但其產(chǎn)品**均依賴高性能、低功耗的定制化SoC。若這些企業(yè)未來走向自研芯片（如深度求索布局AI推理加速卡、強(qiáng)腦科技開發(fā)神經(jīng)信號(hào)處理芯片），GT600將成為其不可或缺的驗(yàn)證伙伴。即便當(dāng)前由第三方代工，其合作芯片廠也可能采用GT600進(jìn)行量產(chǎn)測(cè)試。更重要的是，二者同處杭州科創(chuàng)生態(tài)，共享人才、政策與供應(yīng)鏈資源。GT600雖未出現(xiàn)在烏鎮(zhèn)峰會(huì)聚光燈下，卻是支撐“六小龍”硬科技底座的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施，構(gòu)成“應(yīng)用—算法—芯片—測(cè)試”的完整本地閉環(huán)。長(zhǎng)沙CAF測(cè)試系統(tǒng)精選廠家