國磊高阻測試系統(tǒng)定制

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產(chǎn)效率，降低了單顆測試成本，助力國產(chǎn)車規(guī)芯片快速上車。國磊GT600SoC測試機尤其適用于高引腳數(shù)、高集成度、混合信號特征明顯的先進芯片。國磊高阻測試系統(tǒng)定制

AI眼鏡的崛起標志著消費電子向“感知+計算+交互”一體化演進。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信號器件，測試難度遠超傳統(tǒng)MCU。國磊GT600測試機憑借nA級電流測量、高精度模擬測試、10ps時序分析、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺，成為AI眼鏡SoC從研發(fā)驗證到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵支撐。它不**滿足當前40/28nm節(jié)點的測試需求，更具備向更先進工藝延伸的能力。在AI終端加速滲透的浪潮中，GT600為國產(chǎn)可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的測試解決方案，助力中國智造搶占下一代人機交互入口。無錫CAF測試系統(tǒng)批發(fā)國磊GT600可驗證電源門控（PowerGating）開關(guān)的漏電控制效果。

國磊GT600支持可選配高精度浮動SMU板卡，每塊SMU可**輸出電壓與監(jiān)測電流。對于具有多個電源域（如VDD_CORE、VDD_IO、VDD_SRAM、VDD_PG）的SoC，GT600可為每個域分配**SMU通道，實現(xiàn)各電源域**上電/斷電、不同電壓值（如1.8V、1.2V、0.9V）同時施加、防止電源域間相互干擾?，F(xiàn)代SoC要求多個電源域按特定順序上電（如先VDD_IO，后VDD_CORE）以避免閂鎖效應。國磊GT600通過GTFY軟件系統(tǒng)編程控制各SMU的開啟時間，精確設(shè)置各域電壓的上升延遲（精度達ms級），驗證SoC在正確與錯誤時序下的行為，確保設(shè)計符合規(guī)范。國磊GT600的SMU和PPMU支持實時監(jiān)測每個電源域的電流消耗，可用于識別某電源域的異常功耗（如漏電、短路）、分析不同工作模式（運行、睡眠、喚醒）下的域級功耗分布、驗證電源門控模塊是否有效切斷目標域供電。國磊GT600可編程調(diào)節(jié)各電源域電壓（如±5%波動），測試SoC在電壓偏移條件下的功能穩(wěn)定性，評估電源完整性設(shè)計余量。對于國磊GT600SMU電壓范圍外的電源（如高壓模擬域），可通過GPIB/TTL接口控制外部源表或電源模塊，實現(xiàn)與GT600內(nèi)部SMU的同步操作，構(gòu)建完整的多電源域測試系統(tǒng)。

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其高精度、高可靠性與混合信號測試能力，特別適用于對安全性和穩(wěn)定性要求極高的**醫(yī)療設(shè)備芯片的測試。以下幾類關(guān)鍵芯片非常適合使用杭州國磊GT600進行驗證： 1. 醫(yī)用SoC與微控制器（MCU） 現(xiàn)代醫(yī)療設(shè)備（如便攜式超聲儀、智能監(jiān)護儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無線通信模塊的SoC或MCU。國磊GT600可***驗證其數(shù)字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測試模擬前端（AFE）對生物電信號（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測量數(shù)據(jù)真實可靠。 2. 高精度模擬與混合信號芯片 醫(yī)療設(shè)備依賴高精度ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）進行信號轉(zhuǎn)換。國磊GT600的PPMU可精確測量nA級漏電流，防止信號漂移；其高精度TMU和可選AWG能生成標準生理信號波形，驗證ADC的線性度、信噪比（SNR）等關(guān)鍵參數(shù)，確保血壓、血氧等測量值符合醫(yī)療級標準。國磊GT600SoC測試機每通道32/64/128M向量存儲深度，支持復雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。

在全球半導體測試設(shè)備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數(shù)字測試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)關(guān)鍵突破。該設(shè)備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數(shù)字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規(guī)級芯片的驗證需求。其模塊化架構(gòu)不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現(xiàn)了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規(guī)避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產(chǎn)芯片加速落地的大環(huán)境下，GT600不僅是一臺測試設(shè)備，更是保障中國半導體產(chǎn)業(yè)鏈安全的戰(zhàn)略支點，為國內(nèi)設(shè)計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。國磊GT600SoC測試機400MHz測試速率可覆蓋HBM2e/HBM3接口邏輯層的高速功能驗證。杭州國磊GEN測試系統(tǒng)廠家

國磊GT600的16個通用插槽支持數(shù)字、模擬、混合信號板卡混插，實現(xiàn)電源管理IC、傳感器信號調(diào)理芯片的測試。國磊高阻測試系統(tǒng)定制

推動測試設(shè)備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構(gòu)建完整的國產(chǎn)半導體測試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術(shù)工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它通過實現(xiàn)**測試設(shè)備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進上下游協(xié)同，構(gòu)筑起一道抵御外部風險的“技術(shù)護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點。國磊高阻測試系統(tǒng)定制