杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-10-25
超聲掃描顯微鏡在半導體封裝檢測中主要用于芯片貼裝缺陷檢測,例如識別金線焊接處的空洞、塑封料與芯片表面的分層等工藝缺陷。通過高頻聲波穿透封裝材料,可非破壞性地定位內部缺陷,避免因解剖樣品導致的結構破壞。
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