黑龍江晶圓PAT

為滿足日益嚴(yán)苛的車規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測(cè)試階段引入三溫乃至多溫測(cè)試，已成為篩選高可靠性芯片的標(biāo)準(zhǔn)流程。這一測(cè)試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評(píng)估，有效剔除對(duì)環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測(cè)試數(shù)據(jù)中識(shí)別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風(fēng)險(xiǎn)的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。

為應(yīng)對(duì)車規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測(cè)試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開發(fā)了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行孤立判定的測(cè)試模式，轉(zhuǎn)而通過對(duì)同一芯片在不同溫度下的參數(shù)表現(xiàn)進(jìn)行動(dòng)態(tài)追蹤與關(guān)聯(lián)性分析，從而精確識(shí)別并剔除那些對(duì)環(huán)境過度敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品。 STACKED算法適用于多層結(jié)構(gòu)失效分析，解析層間關(guān)聯(lián)缺陷的分布特征。黑龍江晶圓PAT

在晶圓制造過程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測(cè)試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測(cè)試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過測(cè)”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對(duì)。必須借助特定的空間識(shí)別算法，對(duì)晶圓測(cè)試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 可視化MappingOverInk處理流程上海偉諾信息科技ZPAT功能，通過堆疊Mapping及不同算法幫助用戶剔除潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。

在晶圓測(cè)試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測(cè)試圖譜）作為記錄每一顆芯片測(cè)試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時(shí)有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會(huì)導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測(cè)試結(jié)果無法被正確解析，更會(huì)中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對(duì)整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對(duì)這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測(cè)試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺(tái)可直接識(shí)別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測(cè)試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測(cè)試帶來的成本與時(shí)間損失，更能構(gòu)建起一條從測(cè)試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動(dòng)化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。 Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)判定，確保車規(guī)級(jí)芯片可靠性。

當(dāng)企業(yè)評(píng)估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時(shí)，功能覆蓋度與服務(wù)適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級(jí)配置選項(xiàng)，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務(wù)復(fù)雜度靈活調(diào)整?；A(chǔ)模塊滿足自動(dòng)化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級(jí)功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動(dòng)過濾及定制化報(bào)表生成。所有版本均支持主流測(cè)試平臺(tái)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價(jià)格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時(shí)保障長(zhǎng)期使用價(jià)值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價(jià)比的部署模式，使企業(yè)在有限預(yù)算下仍能實(shí)現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具經(jīng)濟(jì)性與擴(kuò)展性的YMS解決方案。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時(shí)自動(dòng)觸發(fā)設(shè)備維護(hù)工單，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性維護(hù)?？梢暬疢appingOverInk處理流程

Mapping Over Ink處理推動(dòng)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)決策，取代經(jīng)驗(yàn)式質(zhì)量判斷。黑龍江晶圓PAT

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測(cè)試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識(shí)別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。黑龍江晶圓PAT

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！